Gebraucht KLA / TENCOR 2.1 Surfscan #9043947 zu verkaufen

KLA 2.1 Surfscan ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für die Halbleiterherstellung. Es verwendet eine Reihe fortschrittlicher Technologien, wie photonenemittierende Dioden, Laserplumes und andere optische Systeme, um Halbleiterwafersubstrate zu inspizieren. Das System wurde entwickelt, um Fehler auf der Oberfläche der Wafer zu erkennen, so dass die Benutzer alle Probleme identifizieren und beheben können, wie sie auftreten. Der Surfscan 2.1 hat ein robustes, industrielles Design, das es ermöglicht, in rauen Halbleiterproduktionsumgebungen zu arbeiten. Es besteht aus einem leistungsstarken Controller, mehreren hochauflösenden Kameras und Optik, robuster Bewegungssteuerung und ausgeklügelten Metrologie-Algorithmen. Das Gerät verwendet fortgeschrittene Bildanalysemethoden, um Wafer schnell zu scannen und etwaige Abweichungen vom erwarteten Muster zu erkennen. Die Kombination aus Computertomographie, Laserkolben und photonenemittierenden Dioden ermöglicht eine präzise Analyse der Waferoberfläche im Nanometermaßstab. Es ist mit der Fähigkeit ausgestattet, Merkmale im Bereich von 100 nm zu erkennen, die weit über die Fähigkeiten anderer Halbleiterinspektionssysteme hinausgehen. Die Maschine ist in der Lage, schnell eine Vielzahl von verschiedenen Waferbedingungen, wie Abscheidungsqualität, Oberflächenrauhigkeit und Widerstand zu beurteilen. Es verfügt über umfassende Fehlerklassifizierungsfunktionen, um eine erweiterte Bewertung der Waferintegrität zu ermöglichen. Es kann auch automatisierte Messungen von positiven und negativen Defekten durchführen, wodurch der Bedarf an manuellen Bewertungen reduziert wird. Darüber hinaus kann der Surfscan 2.1 mit anderen Systemen, wie Produktionssteuerungen, Roboterarmen und Vision-Systemen, für eine umfassende Werkzeugsteuerung integriert werden. Dies ermöglicht eine vollautomatische Prüfung und Fehlererkennung ohne manuellen Eingriff. Darüber hinaus verfügt es über eine intuitive Benutzeroberfläche für einfache Bedienung und automatisierte Analyse. Insgesamt ist TENCOR Surfscan 2.1 ein fortschrittliches Gerät für Wafertests und Messtechnik, das zur genauen Inspektion von Halbleiterscheiben entwickelt wurde. Es ist mit einem robusten Design und fortschrittlichen Metrologie-Algorithmen für hochgenaue Ergebnisse entwickelt. Mit seinen ausgeklügelten Fehlererkennungsfunktionen und der Integration in andere Systeme bietet es eine fortschrittliche Lösung für die Qualitätskontrolle in der Halbleiterherstellung.