Gebraucht KLA / TENCOR 2.1 Surfscan #9239243 zu verkaufen

KLA / TENCOR 2.1 Surfscan
ID: 9239243
Inspection system.
KLA 2.1 Surfscan ist eine Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung zur überlegenen Überwachung und chargenweiten Diagnose kritischer Halbleiterbauelementstrukturen. Es ist eine der höchstauflösenden messtechnischen Lösungen zur Erkennung und Charakterisierung von Defekten in Halbleiterscheiben. Das System basiert auf einer proprietären Oberflächentechnologie-Engine und verwendet fortschrittliche Algorithmen zur Fehlererkennung, was zu einer hochgenauen Leistung führt. Es bietet Anwendern die Möglichkeit, eine Vielzahl von Messungen wie kritische Dimensionen, Bild, Oberflächenrauhigkeit, integrierte Gerätefunktionen und lokalisierte Oberflächenmapping genau zu analysieren. Es unterstützt eine Vielzahl von Anwendungen für die Messung komplexer Geräte und Merkmale, einschließlich 3D-Oberflächeninspektion und Wafer-Sondierung für die Herstellung Ausbeute und Zuverlässigkeit. Die intuitive Benutzeroberfläche des Geräts ist einfach zu bedienen, sodass Anwender Messabläufe schnell entwerfen, steuern und ausführen können. Darüber hinaus können Benutzer Analyseparameter anpassen, um die Leistung und Genauigkeit ihrer Detektoren zu optimieren. Surfscan unterstützt auswählbare Bildgebungstechnologien, um standortspezifischen Prozessanforderungen gerecht zu werden, einschließlich direkter Bildgebung, Fourier-Transformation Infrarot (FTIR), Röntgenbildgebung und Kantenemissionsmikroskopie (EEM). Darüber hinaus bietet die Maschine Bildgebung mit tiefer UV-Fähigkeit, so dass Anwender Fehler im Nanometermaßstab erkennen können, die sonst mit herkömmlichen optischen Technologien schwer zu messen sind. Es enthält auch fortschrittliche berührungslose Messtechniken, die für die Inline- oder Vor-Ort-Messtechnik geeignet sind, wodurch manuelle Messungen entfallen. Das Tool unterstützt eine Reihe branchenüblicher Datenformate zur nahtlosen Integration in bestehende Datensysteme. Es kommt mit einem integrierten Report-Generator und einer umfassenden Suite von Bilderfassungs- und Analysetools für detaillierte Messungen und Datenanalysen. Insgesamt ist TENCOR 2.1 Surfscan das ideale Gut für schnelle, genaue und zuverlässige Wafermessung und Messtechnik. Es bietet höchste Genauigkeit, Geschwindigkeit und Flexibilität und ist damit die perfekte Lösung für Halbleiterbauelemente und Prozesscharakterisierung und Fehlerdiagnose.
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