Gebraucht KLA / TENCOR 4500 / 5500 SURFSCAN #9105698 zu verkaufen

KLA / TENCOR 4500 / 5500 SURFSCAN
ID: 9105698
Wafergröße: 6" - 8"
Particle inspection systems, 6" - 8" 4500: up to 6" at .21 micron 5500: up to 8" at .20 micron.
KLA/TENCOR 4500/5500 SURFSCAN ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die branchenführende Genauigkeit und Auflösung für die Analyse elektrischer, optischer und chemischer Parameter bietet. Es wird verwendet, um Fehler auf Halbleiterscheiben, Dünnschichtsubstraten, Masken und Photomasken zu erkennen und zu überwachen. Das SURFSCAN-System KLA 4500/5500 bietet leistungsstarke Anwendungen in einer Vielzahl von Prüf- und Messtechnikprozessen, einschließlich automatisierter Wafer-Kartierung, Fehlererkennung, eingehenden Analysen sowie Fehlerüberprüfung und -klassifizierung. Das Gerät kann mit optischen, elektrischen oder chemischen Testoptionen konfiguriert werden, um eine vielseitige Leistung für eine Vielzahl von Anwendungen zu bieten. Die hochwertige optische Testausrüstung von TENCOR 4500/5500 SURFSCAN verwendet fortschrittliche Algorithmen, um die gesamte Oberfläche eines Wafers zu inspizieren und feinere Defekte und Funktionen als jede andere auf dem Markt verfügbare Technologie zu erkennen. Darüber hinaus bietet es ein elektrisches Prüfwerkzeug mit einer Vielzahl von Sonden, die zur Messung der elektrischen Eigenschaften aktiver Strukturen ausgelegt sind. Das Asset kann auch für fortgeschrittene messtechnische Zwecke wie Scannen und Abbilden der Oberflächenmerkmale der Wafer verwendet werden. Darüber hinaus bietet das Modell 4500/5500 SURFSCAN eine Reihe von Funktionen und Werkzeugen, die die Fehlerüberprüfung und -analyse erleichtern. Das Scan- und Überprüfungsmodul bietet beispielsweise Zoomfunktionen, mit denen Benutzer Funktionen bis auf die Pixelebene überprüfen können. Darüber hinaus ist das Gerät in der Lage, automatisch Fehlerberichte und Analysen zur detaillierten Datenanalyse und zum Vergleich über den Wafer zu generieren. KLA/TENCOR 4500/5500 SURFSCAN bietet modernste Technologie zur Optimierung des Waferdesigns, zur Verbesserung der Produktionserträge und zur Bereitstellung schneller, umfassender Inspektionsmöglichkeiten. Mit seiner leistungsstarken Leistung und seinen fortschrittlichen Funktionen ist KLA 4500/5500 SURFSCAN die perfekte Wahl für erweiterte Wafertests und messtechnische Anwendungen.
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