Gebraucht KLA / TENCOR 4500 SURFSCAN #9229796 zu verkaufen

KLA/TENCOR 4500 SURFSCAN ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die sowohl für die Waferinspektion als auch für die Messtechnik höchste Leistung und Genauigkeit bietet. Mit einem großen Sichtfeld, einer Kombination aus 150mm, 200mm und 300mm Optik, mit der höchsten erreichbaren Auflösung und der neuesten fortschrittlichen Softwaresteuerung ist KLA 4500 SURFSCAN die ideale Wahl für die anspruchsvollsten Anwendungen zur Oberflächencharakterisierung. Im Mittelpunkt des TENCOR 4500 SURFSCAN steht ein Großfeld-High-Through-Put Optical Microscope (HTOM), das auf höchste Genauigkeit und Geschwindigkeit ausgelegt ist. Dieses System verfügt über ein großes Sichtfeld, eine Kombination aus 150mm, 200mm und 300mm Optik und eine Reihe von Kontrastmodi. Das Gerät kann gleichzeitig 15 Wafer pro Lauf erfassen und leistungsfähige und genaue Oberflächenanalysen mehrerer Wafer auf einmal liefern, ohne dass die Probe angehalten und neu positioniert werden muss. Durch die Verwendung der neuesten fortgeschrittenen Kalibrierungsmethoden kann die Maschine bis zu 4-Sigma-Höhenunterschiede von der anfänglichen Kalibrierung genau messen. 4500 SURFSCAN ist auch mit fortschrittlicher Software-Steuerung ausgestattet, die das Beste aus ihrem großen Sichtfeld und ihrer beeindruckenden optischen Leistung macht. Das Tool verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche mit leistungsstarker Bildanalysesoftware, die schnell Ergebnisse verarbeiten und generieren kann. Diese Software ermöglicht es dem Benutzer, Scans innerhalb eines Bruchteils der normalerweise benötigten Zeit einfach zu steuern, zu analysieren und zu interpretieren. Neben der Wafer-Bildgebung bietet KLA/TENCOR 4500 SURFSCAN auch volle 2D/3D-Messtechnik, einschließlich kritischer Dimensionsmessungen und Overlay-Messungen. Dies vereinfacht komplexe Verfahren zur Geräteherstellung erheblich und ermöglicht Anwendern die präzise Steuerung kritischer Merkmale wie Linienbreiten, Gräben, Breiten und Höhen. Darüber hinaus bietet KLA 4500 SURFSCAN dank der beeindruckenden „Smartscan“ -Technologie weitere verbesserte Funktionalität. Diese automatisierte Funktion kann schnell mehrere Wafer mit bis zu vier Lasern für jeden Wafer scannen, so dass es einfach ist, mikroskopische Defekte schnell und genau zu erkennen. Dies wird durch eine automatisierte Fehlererkennungssoftware unterstützt, die es Anwendern ermöglicht, große Wafer-Proben schnell zu analysieren und etwaige Fehler zu identifizieren, was es zu einem der fortschrittlichsten verfügbaren Wafer-Test- und Messtechnik-Systeme macht. Insgesamt bietet TENCOR 4500 SURFSCAN unübertroffene Niveaus der Leistung und Genauigkeit an, es die ideale Wahl für sogar die anspruchsvollsten Oberflächencharakterisierungsbedürfnisse machend. 4500 SURFSCAN verfügt über ein großes Sichtfeld, eine überlegene Optik, eine fortschrittliche Softwaresteuerung und automatisierte Funktionen und macht es schneller und einfacher, Oberflächen genau zu analysieren und bietet ein beispielloses Maß an Produktivität und Zuverlässigkeit.