Gebraucht KLA / TENCOR 5000 Surfscan #9284003 zu verkaufen

KLA / TENCOR 5000 Surfscan
ID: 9284003
Inspection system.
KLA/TENCOR 5000 Surfscan ist eine fortschrittliche Wafer-Test- und Messtechnik-Plattform für den Einsatz in der modernen Halbleiterverarbeitung. Es ist in der Lage, eine Hochgeschwindigkeitsmessung der Oberflächentopographie vorzunehmen. Die Geräte bieten überlegene Messgenauigkeit, Durchsatz und Flexibilität, so dass Anwender beispiellose Produktivität in Wafertests und Messtechnik erreichen können. Der Surfscan basiert auf einer fortschrittlichen modularen Architektur, mit der Benutzer das System an ihre spezifischen Anforderungen anpassen können. Es verfügt über eine breite Palette von Funktionen und Optionen, darunter mehrere Messstufen, eine Vielzahl von fortschrittlichen Detektoren, Antriebe und Messalgorithmen. Diese Eigenschaften ermöglichen die Prüfung verschiedener Arten von Substraten, einschließlich Siliziumscheiben, Glas und Keramik. Das Gerät verfügt über erweiterte Messfähigkeiten wie Interferometrie, konfokale Mikroskopie und Oberflächenprofilometrie. Die Interferometrie ermöglicht eine genaue Messung der Oberflächentopographie, während die konfokale Mikroskopie verwendet wird, um subtile Höhenvariationen wie Schritthöhe und vertiefte Flächenbreite zu erkennen. Die Oberflächenprofilometrie wird zur Analyse der Flachheit des Wafers verwendet und liefert Ergebnisse mit hoher Auflösung. Die Maschine ist auch mit einem hochpräzisen Schrittmotor ausgestattet, der eine Hochgeschwindigkeitsabtastung des Substrats ermöglicht, um detaillierte Bilder der Oberflächenstruktur zu erzeugen. Darüber hinaus ist der Surfscan in der Lage, Defekte wie Partikel, Kantenrauhigkeiten, Kantenhüllen und Rillen und andere zu messen. Das dem Surfscan beigefügte erweiterte Softwarepaket dient der vollständigen Datenvisualisierung und Analyse von Planheit und Fehlercharakterisierung von Wafern. Es kann eine Vielzahl von Parametern erkennen und messen, die für Benutzer von Interesse sein können, einschließlich Waferbogen, Dickenregistrierung, Kartierung kritischer Dimensionen (CD), Fehlerzählungen, Partikelgröße, Ungleichmäßigkeit und vieles mehr. Das Tool basiert auf einer äußerst zuverlässigen Plattform und zeichnet sich durch eine ausgezeichnete Benutzerfreundlichkeit aus. Es ist mit einer modernen Benutzeroberfläche ausgestattet, mit der Benutzer schnell auf alle Funktionen und Funktionen des Elements zugreifen können. Darüber hinaus ist das Modell einfach zu konfigurieren und zu beheben. KLA 5000 Surfscan ist eine branchenführende Wafer-Test- und Metrologie-Plattform, die hochpräzise Messungen und einen hervorragenden Durchsatz bietet. Es ist anpassbar, funktionsreich und bietet überlegene Leistung in Wafer-Tests und Messtechnik.
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