Gebraucht KLA / TENCOR 5100 XP #293629138 zu verkaufen

KLA/TENCOR 5100 XP ist eine fortschrittliche Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die mit modernster Technologie entwickelt wurde, um unvergleichliche Genauigkeit und Genauigkeit bei der Analyse und Prüfung auf Waferebene zu liefern. KLA 5100 XP verfügt über eine vielseitige, hochpräzise Bildverarbeitungsplattform, die von integrierten Softwarelösungen unterstützt wird, um Arbeitslasten zu optimieren und Tests und Analysen zu beschleunigen. TENCOR 5100XP enthält eine hochauflösende Reticle Patterned Illumination (PIT), die eine präzise Mustererkennung und Verifizierung von gedruckten Drahtbänken und Geräten ermöglicht. Die innovative Stacked Wells-Beleuchtungstechnik verbessert die Analysefähigkeit mit ihrer Fähigkeit, auch mikroskopische Schwankungen von Rotationen und Schrägungswinkeln von Teststrukturen zu erkennen. Darüber hinaus kann ein erweitertes Multi-Layer Reticle (MLR) -Scansystem große Bereiche mit größerer Geschwindigkeit und Genauigkeit scannen. 5100XP bietet auch einen schnellen Hoempfindlichkeitsentdeckungsmechanismus an, auf bedeutsam verbesserten Testdurchfluss hinauslaufend. So können Anwender schnell umschriebene Daten erfassen und eine schnelle Fehleranalyse und -identifizierung durchführen. Darüber hinaus verfügt das Gerät über umfassende messtechnische Fähigkeiten, einschließlich Wafer Type Recognition (WTR), Particle Counting (PC) und Image Capture (IC). Zusätzliche Messungen wie Waferkrümmung, Lift-off und 3-dimensionale kritische Dimensionsmessung (CD) können auch mit einem CD-SEM-Modul unterstützt werden. KLA- 5100XP können eine Vielzahl von Substraten verarbeiten, darunter Silizium, Glas- und Kunststoffscheiben sowie MEMS-variante Substrate, um optimale messtechnische Ergebnisse zu gewährleisten. Mit seiner großen Durchsatzkapazität, seiner intuitiven Benutzeroberfläche und automatisierten Systemen erfordert KLA/TENCOR 5100XP eine minimale Bedienerschulung und bietet eine konsistente, wiederholbare Leistung in Produktionsumgebungen. Darüber hinaus bietet es erweiterte Maschinenupgrades, einschließlich eines automatisierten Fehlerprüfungs-Softwarepakets und eines zusätzlichen großflächigen Scanmoduls. Diese zusätzlichen Funktionen verbessern die Effizienz und erhöhen den Durchsatz bei minimalem Aufwand. Insgesamt ist TENCOR 5100 XP ein fortschrittliches Wafer-Test- und Messtechnik-Tool, das eine zuverlässige Plattform für anspruchsvolle Anwendungen bietet. Seine fortschrittlichen Funktionen ermöglichen eine schnelle und genaue Analyse mehrerer Substrate und garantieren branchenführende Genauigkeit und Wiederholbarkeit, um eine effiziente Wafer-Level-Analyse in allen Phasen des Testprozesses zu ermöglichen.