Gebraucht KLA / TENCOR 5100 XP #293727707 zu verkaufen

KLA/TENCOR 5100 XP ist eine hochentwickelte Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für den Einsatz in High-End-Forschungs- und Entwicklungslabors. Das System verwendet fortschrittliche Spektroskopietechnologien, um die physikalischen Eigenschaften von Wafern zu messen. Das Gerät bietet genaue Messungen von Parametern wie optischem und elektrischem Widerstand, Mikrostruktur und Foliendicke, so dass Forscher die Herstellung modernster mikroelektronischer Produkte optimieren können. Die Maschine verfügt über ein leistungsstarkes Inspektionswerkzeug, das in der Lage ist, Wafer innerhalb eines 12-Zoll-Durchmessers mit Genauigkeit und Empfindlichkeit auf 0,1 Mikrometer abzubilden. Darüber hinaus kann das Asset die gesamte Oberfläche eines einzelnen Wafers in weniger als wenigen Minuten schnell scannen und analysieren, was es zu einer idealen Wahl für schnell drehende Prozesse macht. KLA 5100 XP verfügt auch über zwei unabhängige motorisierte Stufen für die Positionierung von Wafern. Die Stufen sind sowohl für lineare als auch für Drehbewegungen geeignet und bieten den Forschern die Flexibilität, mehrere Proben in einer Sitzung zu inspizieren. Die Stufen sind hochgenau, mit Auflösungen bis zu einem Mikron. Das Modell verfügt zudem über ein präzises optisches Mikroskop und eine Hochleistungs-Bildaufnahmekamera. Die Kamera ist in der Lage, Bilder einer einzelnen Oberfläche oder andere einzelne Merkmale wie feine Linien oder Schnitttiefen bei Auflösungen bis zu 0,1 Nanometer zu erfassen. Das Mikroskop bietet Forschern die Möglichkeit, Proben eingehend zu analysieren und wertvolle Informationen zur weiteren Optimierung mikroelektronischer Prozesse bereitzustellen. Weitere Merkmale der TENCOR- 5100XP sind eine automatisierte Wafer-Oberflächeninspektion, ein automatisiertes Deflektometrie-Datenerfassungssystem zur Messung der Wafer-Zentralisierung und eine automatisierte Partikelprüfeinheit zur Bestimmung der Partikelgröße und des Standorts. Abschließend ist 5100XP eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die den anspruchsvollsten Forschungs- und Entwicklungsanforderungen gerecht wird. Das Tool bietet Forschern die Flexibilität, Wafereigenschaften schnell und präzise zu messen, um ihre Prozesse zu optimieren und mikroelektronische Komponenten höchster Qualität herzustellen.