Gebraucht KLA / TENCOR 5107 #293628543 zu verkaufen

KLA/TENCOR 5107 wafer testing and metrology equipment ist ein innovatives Werkzeug, das automatisierte optische und Oberflächenmesstechnik mit Präzisionswafertests kombiniert. KLA 5107 verwendet eine hochgenaue Digitalkamera, eine Präzisionsstufe und integrierte optische Bildgebungs- und Verarbeitungsalgorithmen, um bildbasierte Oberflächeninspektions- und Analysefunktionen zu ermöglichen. TENCOR 5107 verfügt über fortschrittliche Bildverarbeitungsalgorithmen, die bei der Analyse der Oberfläche eines Wafers eine beispiellose Datengranularität ermöglichen. Das System ist in der Lage, Mikrodefekte, Oberflächenstruktur- und Formmessungen sowie ultraempfindliche Wafer-prozessbezogene Variationen zu identifizieren. Diese Genauigkeit ermöglicht es 5107, Prozessprobleme zu identifizieren, die die Gesamtqualität des fertigen Produkts erheblich beeinflussen können. KLA/TENCOR 5107 bietet zudem eine schnelle, wiederholbare messtechnische Auflösung von bis zu 0,1 Mikron sowie ein Sichtfeld von bis zu ∼5mm x 5 mm. Auf diese Weise können vielfältige Scheibengrößen und Geometrien getestet und ausgewertet werden. Darüber hinaus integriert KLA 5107 mit anderen Systemen für zusätzliche integrierte Prozesssteuerung und Datensynchronisation. Durch diese Integration kann das Gerät Ergebnisse kontinuierlich in Echtzeit überwachen und aktualisieren. TENCOR 5107 ist für den Einsatz auf Produktionslinien und in F & E-Laboren konzipiert. Zunehmend erfordern beide Branchen genaue, wiederholbare und konsistente Messungen der Waferqualität, und 5107 liefert all dies in einer einzigen Hochleistungsmaschine. Die Kombination aus Geschwindigkeit, Genauigkeit und Zuverlässigkeit macht KLA/TENCOR 5107 zum idealen Werkzeug für die Wafermesstechnik und -prüfung. Insgesamt bietet KLA 5107 eine revolutionäre Lösung für Hersteller und Forschungslabore, die schnelle und genaue Messungen der Waferqualität wünschen. Durch die Kombination innovativer optischer und oberflächenmesstechnischer Technologien mit verbesserter Datengranularität, Sichtfeld, Prozessintegration und wiederholbarer Messtechnik hat TENCOR 5107 einen neuen Standard für automatisierte Wafer-Messtechnik und -Tests gesetzt.