Gebraucht KLA / TENCOR 5107 #9120918 zu verkaufen

KLA/TENCOR 5107 wafer testing and metrology equipment ist eine fortschrittliche Technologie, die die genaue Messung, Prüfung und Charakterisierung von Halbleiterscheiben ermöglicht. Das System verwendet fortschrittliche Optik und Mikrosensoren, um mikroskopische Defekte auf der Waferoberfläche zu erkennen und ihre physikalischen Eigenschaften zu messen. Die Anlage arbeitet im Hochvakuum, um Staubpartikel zu beseitigen, die die Messungen stören könnten. Die Maschine KLA 5107 verfügt über ein integriertes Wafer-Handhabungswerkzeug, das es dem Wafer ermöglicht, sich in drei Dimensionen zu bewegen und präzisere Messungen und Tests zu ermöglichen. Der integrierte Messarm weist eine Reihe von Sensoren auf, die mehrere Scheiben des Wafers gleichzeitig messen können. Das Asset verwendet eine fortschrittliche Analysesoftware, die Daten aus den Sensoren analysiert und eine detaillierte Wafer-Map und einen Prozessbericht erstellt. Das Modell TENCOR 5107 bietet zahlreiche Vorteile gegenüber anderen Wafer-Prüf- und Messtechnik-Systemen. Es kann kleinere Mängel aufgrund seiner fortschrittlichen Optik und integrierten Wafer-Handling-Geräten messen. Es ist auch in der Lage, Schwankungen in der Dicke eines Wafers zu messen und die Eigenschaften der Oberflächenspannung und Haftung zu erfassen, die die Leistung eines Halbleiterbauelements beeinflussen können. 5107-System umfasst eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche, die von PCs und mobilen Geräten aus zugänglich ist und die volle Kontrolle über den Mess- und Testprozess bietet. Das Gerät kann auch einfach mit vorhandener Software und Datenbanken synchronisiert werden und ermöglicht eine nahtlose Integration in bestehende Produktionspipelines. Die Maschine KLA/TENCOR 5107 wurde speziell für den Betrieb in einer Reinraumumgebung entwickelt und bietet in dieser Umgebung eine hervorragende Leistung. Das Werkzeug ist mit einer hocheffizienten Luftkühlung, einem Reinigungsmodell und Vakuumkammern ausgestattet, die die Leistung verbessern und Kontaminationsrisiken reduzieren. Die Ausrüstung ist auch entworfen, um Kosten zu reduzieren, indem die Arbeit, die erforderlich ist, um die Wafer zu messen und zu testen. Automatisierte Systeme wie KLA 5107 sind für schnellere Testzyklen geeignet und genauer als manuelle Prozesse. Ihr Einsatz kann auch Kosten durch Fehler und Mängel reduzieren. Insgesamt ist das Wafer-Prüf- und Messsystem TENCOR 5107 ein fortschrittliches und zuverlässiges Werkzeug zum Messen und Testen von Halbleiterscheiben. Das Gerät bietet unzählige Vorteile im Vergleich zu anderen Messtechnik-Systemen, wie seine Fähigkeit, kleinere Mängel zu messen, seine benutzerfreundliche Schnittstelle und seine automatischen Prozesse, die Kosten und Zeit sparen können.