Gebraucht KLA / TENCOR 5107XP #9101479 zu verkaufen

KLA/TENCOR 5107XP ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für genaue und umfassende Messungen kritischer Bauelementparameter auf Halbleiterscheiben entwickelt wurde. Es verfügt über eine hochpräzise optische Messtechnik-Engine, die mehrere Messaufgaben wie Oberflächenprofilierung, Bildgebung, Detaillierung und Mustererkennung durchführen kann. Das System kann auch eine aussagekräftige Analyse erzeugen, um ungleichmäßige Bereiche oder KEs auf der Oberfläche des Wafers zu identifizieren. KLA 5107XP verwendet die proprietäre WaveFront-Technologie der KLA, die genaue Reflexionen und Lichtbrechungen ermöglicht, was zu einer hoch detaillierten und auflösungsreichen Oberflächenkarte führt. Diese Kombination aus optischen Komponenten und Computeralgorithmen ermöglicht es TENCOR- 5107XP, auch kleinste Variationen von Oberflächenmerkmalen auf dem Wafer zu erkennen. Darüber hinaus erweitern die ausgeklügelten Elektronik- und Verarbeitungsfunktionen von 5107XP die Integration komplexer Softwarebefehle. Diese ermöglichen eine Abtastung, Abbildung und vollständige statistische Auswertung der zu untersuchenden Daten, wodurch die Ausgangspegel der Einheit weiter angereichert werden. Die leistungsstarken ASIC- und Echtzeit-Bildanalyse-Routinen der Maschine ermöglichen es KLA/TENCOR- 5107XP, relevante Messinformationen schnell und genau aus Waferdaten zu analysieren, zu klassifizieren und zu extrahieren. So können Anwender in kürzerer Zeit und entsprechend sehr enger Prozessanforderungen zuverlässige Ergebnisse erzielen. Darüber hinaus ermöglicht die leistungsstarke Software-Suite KLA 5107XP Benutzern, sowohl die Datenanalyse als auch die Analyse-Routinen anzupassen, sodass Benutzer das Tool an ihre spezifischen Anforderungen anpassen können. Abschließend ist TENCOR 5107XP ein Arbeitstier der Wafertests und Messtechnik. Mit seinem hochpräzisen optischen Messtechnik-Motor, der WaveFront-Technologie und der leistungsstarken Software-Suite bietet 5107XP umfassende und genaue Messungen kritischer Geräteparameter auf Halbleiterscheiben.