Gebraucht KLA / TENCOR 5300 #9161978 zu verkaufen

KLA/TENCOR 5300 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein hochgenaues und präzises System zur Analyse und Bestimmung der Qualität eines Halbleiterwafers. Es wird von einem ultraschnellen Laserscanner angetrieben, der Waferabmessungen, Ebenheit und Dicke mit unglaublicher Genauigkeit in kurzer Zeit messen kann. Zu den Hauptmerkmalen des Geräts gehören der Hochgeschwindigkeits-Laserscanner, die Bildanalysesoftware sowie integrierte Software- und Hardwarepakete. Die Laseroptik ist in der Lage, den gesamten Wafer schnell und effizient abzutasten und alle notwendigen Daten wie Kanten, Linienlängen, Linienbreiten und andere Oberflächeneigenschaften zu extrahieren. Die Bildanalysesoftware nimmt dann Messwerte aus der Lasermaschine und erzeugt eine digitale Karte der Waferoberfläche, mit der Berichte, Zeichnungen und andere Datenausgänge erzeugt werden. Alle erhobenen Daten werden in einer großen Datenbank gespeichert, auf die jederzeit zugegriffen werden kann. Die integrierten Software- und Hardwarepakete geben dem Anwender leistungsstarke Werkzeuge, um komplexe Oberflächenformen schnell und genau zu messen und etwaige Anomalien oder Defekte im Wafer zu ermitteln. Die erforderlichen Korrekturparameter, die auf jeden Wafer anzuwenden sind, werden vom Werkzeug basierend auf den gesammelten Daten automatisch berechnet. KLA 5300 Wafer Testing and Metrology Asset liefert detaillierte Berichte zur Qualitätskontrolle und Produktentwicklung sowie zur Bewertung der Auswirkungen von Prozessvariationen auf die Waferqualität. Es ist ein hocheffizientes und zuverlässiges Modell mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche, mit der Anwender sowohl regelmäßige als auch spezifische Inspektions- und Analysevorgänge schnell und effizient durchführen können. Seine Genauigkeit und sein Leistungsspektrum machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug für jeden Halbleiterhersteller oder jedes Labor.