Gebraucht KLA / TENCOR 5300 #9190561 zu verkaufen

KLA / TENCOR 5300 Oblatenprüfung und Metrologieausrüstung sind integriertes Stromkreisüberprüfungswerkzeug eines fortgeschrittenen Halbleiters, das genaue Messungen und Analysen der Dicke, Defekte und elektrischen Eigenschaften von dünnen Oblatenschichten bietet. Dieses umfassende System bietet fortschrittliche optische Bildgebung zur hochauflösenden Inspektion und Abbildung von Waferoberflächen sowie automatisierte Bildnähte zur nahtlosen Untersuchung kompletter Waferoberflächen. Die KLA 5300 nutzt die fehlererfassende und feineinstellbare Fokustechnologie, um mikroskopische Defekte mittels Echtzeit-dreidimensionaler Bildgebung schnell zu untersuchen und zu charakterisieren. Es baut umfangreiche und detaillierte Daten zu Oberflächenrauhigkeiten, Oberflächenfehlern, musterabhängigen Höheninformationen und Querschnittsanomalien zusammen. Als Teil seiner Fähigkeit, die Oberflächentopographie zu messen, erfasst die Einheit Daten mit einer Rate von bis zu 320 Punkten pro Sekunde, zur schnellen Messung aufeinanderfolgender Punkte ohne Unterbrechung. Darüber hinaus beinhaltet TENCOR 5300 messtechnische Merkmale, die präzise und wiederholbare elektrische Messungen liefern, einschließlich Bogenwiderstand, Bogenwiderstand und Blechkapazitätsmessungen. Darüber hinaus bietet die Maschine einzigartige Spannungskontrastfunktionen sowie Zwei-Klemmen-Kelvin-Kontakttechniken für Kontaktwiderstandsprüfungen. Das Tool wird über eine einzigartig intuitive und benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche gesteuert, die dem Bediener einen einfachen Zugriff auf Programmspeicher, Parameter und Messwerkzeuge ermöglicht. Darüber hinaus ist die Benutzeroberfläche für den Einsatz mit ausgeklügelten statistischen Prozesssteuerungs-Softwareanwendungen konfigurierbar. 5300 Asset bietet eine benutzerfreundliche Umgebung für die schnelle Datenerfassung durch seine eingebetteten Sensorsysteme, die eine Echtzeit-Betrachtung kritischer elektrischer Parameter und die Erfassung elektrischer Daten ermöglichen. Es führt diese Inspektionen genau durch und verhindert gleichzeitig Ermüdung durch ergonomisch fortschrittliche Designstandards. KLA/TENCOR 5300 ist die ultimative Lösung für die Einsicht und Analyse von Halbleiterscheiben. Seine Integration von optischer und elektrischer Präzision ist durch jedes andere Wafer-Testmodell unübertroffen. Letztendlich ist das Gerät so konzipiert, dass es maximale Ausbeute und Zuverlässigkeit für jede integrierte Wafer-Entwicklungs-, Test- und Produktionsumgebung liefert.