Gebraucht KLA / TENCOR 6200 Surfscan #293675905 zu verkaufen

KLA/TENCOR 6200 Surfscan ist eine Wafer-Prüf- und Metrologie-Ausrüstung, die überlegene Fehlererkennung, Überprüfung, Lage und Klassifizierung aller Arten von Defekten auf Halbleiterscheiben, von Mikrobumps und Überbrückung bis zu Oxidgruben, Partikeln, Kratzern und Kristallfehlern bietet. KLA 6200 Surfscan basiert auf einer fortschrittlichen CMOS-Technologieplattform, die direkte elektrische Messungen des Widerstandsgradienten und der Oberflächentopographie ermöglicht. Das System verfügt über eine automatisierte Kalibrierungsmustererkennung, eine hochauflösende Videofähigkeit zur Anzeige von Fehlerbildern direkt auf dem Computerbildschirm des Mikroskopbetreibers sowie eine ausgeklügelte Bildanalysefähigkeit zur Fehlererkennung, -überprüfung, -ortung und -klassifizierung. Die integrierte Fehlerüberprüfung und Messtechnik von TENCOR 6200 Surfscan bietet eine Reihe von Technologien, von Wafer-Mapping und Fehlerortung bis hin zur Fehlerbeurteilung und elektrischen Messungen. Diese Funktionen ermöglichen es 6200 Surfscan, Fehler automatisch mit großer Genauigkeit und Geschwindigkeit zu erkennen, zu überprüfen und zu lokalisieren. Das Gerät bietet auch hochauflösende Wafer-Mapping und Fehlerbewertung Informationen, so dass Benutzer die Möglichkeit, die Art des Defekts und seine Auswirkungen auf den Wafer genau zu bestimmen. Die Maschine unterstützt hochauflösende Bilder oder Scans in jeder Richtung und beinhaltet einen ergonomisch gestalteten Sucher und eine LED-Hintergrundbeleuchtung für den Komfort des Benutzers. Die fortschrittliche Optik und Präzisionselektronik von KLA/TENCOR 6200 Surfscan ermöglicht es, eine Vielzahl von elektrischen Messungen von der Waferoberfläche zu erhalten. Das geringe Rauschen und der hohe Dynamikbereich des Werkzeugs bieten schnelle, genaue elektrische Messungen für eine Vielzahl von Wafer-Testoperationen, einschließlich Konstruktionsprüfung, Gerätecharakterisierung und Ertragsanalyse. KLA 6200 Surfscan ist auch in der Lage, Resistivity-Mapping durchzuführen und bietet Benutzern eine detaillierte visuelle Darstellung der elektrischen Eigenschaften des Wafers. TENCOR 6200 Surfscan bietet modernste Funktionen für Wafertests und Messtechnik. Die hochpräzise Optik, die fortschrittliche CMOS-Technologieplattform und die ausgeklügelten Bildanalysefunktionen bieten ein Höchstmaß an Fehlererkennung, Standort, Überprüfung und Auswertung. Das Asset ist die ultimative Wahl für die anspruchsvollsten Wafer-Testanwendungen.