Gebraucht KLA / TENCOR 6200 Surfscan #293808873 zu verkaufen

KLA/TENCOR SFS 6200 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die sowohl Inline- als auch Pass-Through-automatisierte Inspektions- und Messtechnik-Messungen aller Arten von Halbleiterscheiben anbietet. Es verfügt über leistungsstarke, voll ausgestattete, erweiterte Bildverarbeitungsfunktionen und einen hohen Durchsatz. Die in diesem System verwendete innovative Technologie ermöglicht die schnelle, präzise und zuverlässige Prüfung, Verifizierung und Analyse von Wafern. Das KLA SFS 6200 verfügt über eine umfassende Suite von automatisierten Bilderfassungs-, Wafer-Scan- und Inspektionswerkzeugen. Es hat die Fähigkeit, mehrere bildgebende Techniken und Algorithmen zu kombinieren, um nach einer Vielzahl von Fehlern in Wafern zu suchen. Dieses Gerät verfügt über automatische Fehlerfilterfunktionen und ist in der Lage, subtile Fehler zu erkennen und Fehler zu kategorisieren. Es bietet zudem einen präzisen und starken 3D-Scankopf zur präzisen Lokalisierung und Fehlerbestimmung. Die Maschine nutzt eine hochwertige, Hochgeschwindigkeits-CCD-Kamera, um sowohl Hellfeld- als auch Dunkelfeldbilder mit einer Auflösung von bis zu 1,3 μ m zu erfassen. Die erweiterten Bildanalyse-Algorithmen, die in das Tool eingebettet sind, können überlegene Bildverarbeitung, Fehlerklassifizierung und präzise Kantenerkennungsfunktionen bieten. Darüber hinaus ist das Gut auch in der Lage, zerstörungsfreie Tests, wie Dünnschichtmesstechnik, so dass es für Wafer-Dünn- und Rückenschleifprozesse geeignet ist. TENCOR SFS6200 wird von einem fortschrittlichen Vision-Modell angetrieben, das hochauflösende 3D-Bilder und -Muster erfassen, analysieren und anzeigen kann, die für eine präzise Fehlercharakterisierung erforderlich sind. Diese fortschrittliche Vision-Ausrüstung verwendet Echtzeit-Bildgebungstechnologie, um Fehlalarme zu reduzieren und die Verifizierungszykluszeit zu verkürzen. Das System verfügt auch über leistungsstarke Lichtquelle, Kantenausrichtung und Wafer-Tracking-Sensoren, um präzise Waferkanten und Fehlererkennung zu ermöglichen. TENCOR SFS 6200 bietet auch erweiterte Berichtsfunktionen, so dass Benutzer schnell und einfach Wafer-Testergebnisse erhalten können. Es umfasst ausgefeilte Werkzeuge zur Anpassung von Inspektionsalgorithmen und zur Erstellung maßgeschneiderter Berichte, die alle Qualitätssicherungsanforderungen erfüllen. Darüber hinaus ist das Gerät auch sehr zuverlässig, mit mehr als 17 Jahren bewährter Leistung in der Produktion. Insgesamt ist KLA SFS6200 eine fortschrittliche Automatisierungsmaschine für Wafertests, Inspektionen und Messtechnik. Es bietet erweiterte Bildgebungsfunktionen, automatische Fehlerfilterfunktionen und zerstörungsfreie Testfunktionen, sodass Benutzer Fehler in Wafern schnell und genau erkennen können. Darüber hinaus ist das Tool zuverlässig und anpassbar und bietet Anwendern detaillierte Berichtsfunktionen.