Gebraucht KLA / TENCOR 6220 Surfscan #139951 zu verkaufen

KLA/TENCOR 6220 Surfscan ist eine automatisierte Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine schnellere und zuverlässigere Verarbeitung von Halbleiterscheiben ermöglicht. Es hat die Fähigkeit, einen großen Bereich von Waferparametern zu messen, einschließlich Oberflächen- und Suboberflächenfilmdicke, Ebenheit, Oberflächenstruktur, Peak-to-Valley, Oberflächenreflektivität und das Vorhandensein von Unvollkommenheiten. Das System bietet die Möglichkeit, bis zu 20 Wafer pro Stunde mit dreidimensionalen, niederkraftarmen Lichtmessköpfen zu messen. Die Surfscan-Einheit KLA 6220 ist mit einem langlebigen, korrosionsbeständigen Gehäuse ausgestattet, das für die zuverlässige Handhabung anspruchsvollster Messungen ausgelegt ist. Der Aufbau der Maschine ist modular aufgebaut und bietet die Flexibilität, sie an die Bedürfnisse des Benutzers anzupassen. Es verfügt auch über fortschrittliche Hardware- und Softwarekomponenten, um hochpräzise Messungen zu gewährleisten. Das Werkzeug arbeitet durch die optischen Prinzipien der kurzen Tonhöheninterferenz, wo vakuumerzeugte Interferenzen von Laserstrahlen die unterirdischen Schichten des Wafers sondieren, bevor sie zur Analyse zum Photodetektor zurückreflektieren. Dadurch wird nicht nur die Oberflächen- und Unterflächendicke mit einer Genauigkeit von bis zu 5 nm gemessen, sondern auch auf Defekte, auch unterhalb der Oberfläche des Wafers, überprüft. Die grafische Benutzeroberfläche (GUI) des Asset ist intuitiv und bietet Anwendern eine Reihe von Metriken aus Echtzeitmessungen. Diese Informationen können dann als Feedback verwendet werden, um fundierte Entscheidungen über die Parametereinstellungen und die Leistung des Wafer-Herstellungsprozesses zu treffen. TENCOR 6220 Surfscan ist ein automatisiertes, robustes Wafertest- und Metrologiemodell, das sich für eine Reihe von Produktionsumgebungen eignet. Es wurde entwickelt, um die Prozesszeit zu reduzieren und die Produktqualität zu verbessern, indem es eine schnellere, zuverlässigere und genauere Prüfung mehrerer Wafer gleichzeitig bietet. Als solche ist es eine ideale Lösung für diejenigen, die eine effiziente, zuverlässige und kostengünstige Wafer-Testlösung suchen.