Gebraucht KLA / TENCOR 6220 Surfscan #9070113 zu verkaufen

KLA/TENCOR 6220 Surfscan ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine Vielzahl von Halbleiterscheiben inspizieren und messen und stetig und schnell sterben kann. Seine Komponenten umfassen eine Lichtquelle, zwei Kameras, ein Computersystem und einen variablen Druckkopf. Das Gerät wurde entwickelt, um nanogroße kontaminierende Partikel und Defekte mit atemberaubender Genauigkeit zu identifizieren und Einblicke in die Gleichmäßigkeit und Qualität des Wafers zu geben. KLA 6220 Surfscan verwendet eine Hochleistungslichtquelle zur Beleuchtung des Wafers und zeigt ein zweidimensionales Bild der Oberfläche zur Inspektion an. Die Maschine verwendet dann zwei hochauflösende Kameras und eine ausgeklügelte Optik, um den Wafer zu scannen. Auf diese Weise kann das Computerwerkzeug eine Karte des Wafers analysieren und erstellen und dessen Topographie hervorheben. Das Asset ermöglicht es einem Benutzer, Bereiche von Interesse für Oberflächenprofilierung und Messung auszuwählen; Daten zu diesen Bereichen können in Echtzeit auf dem Computerdisplay angezeigt werden. Das Modell weist ferner einen variablen Druckkopf auf, der dazu dient, vor der Bildgebung einen gleichmäßigen Kontakt zwischen der Probenoberfläche und der Optik zu gewährleisten. Auf diese Weise kann TENCOR 6220 Surfscan schnell wechselnde topographische Merkmale erkennen und Unterschiede in Probe, Beleuchtung und Detektorantwort ausgleichen und faktorisieren. 6220 Surfscan ist in der Lage, mehrere kritische Parameter zu messen, wie mittlere Rauheit, Oberfläche und Steigung. Das Gerät ist auch in der Lage, mehrere Inspektionen in einer Sitzung durchzuführen, was die Zeit im Inspektionsprozess erheblich reduziert. Seine Benutzeroberfläche ist für Benutzerfreundlichkeit konzipiert, so dass Benutzer Fehler schnell und einfach finden und identifizieren können. Abschließend ist KLA/TENCOR 6220 Surfscan ein umfassendes Wafer-Test- und Messtechnik-System, das einen umfassenden Einblick in die Eigenschaften des Wafers einschließlich seiner Topographie, verschiedener Parameter und Einheitlichkeit bietet. Sein Hochleistungsdesign und seine fortschrittlichen Eigenschaften machen es zu einem wertvollen und effizienten Werkzeug für die Inspektion und Messung von Halbleiterscheiben.