Gebraucht KLA / TENCOR 6420 Surfscan #293767198 zu verkaufen

KLA/TENCOR 6420 ist ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnik-Gerät der KLA Corporation. Es wurde entwickelt, um genaue, zuverlässige Messtechnik und Wafer-Prüflösungen für Hersteller in der Halbleiter- und Photovoltaik-Industrie bereitzustellen. Das KLA 6420 System besteht aus einer hochauflösenden digitalen Hochdurchsatz-Abbildungseinheit, automatisierter Probenbeladung und einer Suite von maßgeschneiderten Messtechnik-Software, die eine Hochgeschwindigkeits- und Hochtreue-Analyse von Wafern ermöglicht. Die Maschine kombiniert hohe Durchsätze, hohe Genauigkeit und hohe Datenerfassungs- und Analysefunktionen, um topologische Defekte schnell zu identifizieren, Verunreinigungen und Partikel zu erkennen und abzubilden sowie Querschnittsansichten von Merkmalen und Defekten in Wafern zu erstellen. Das Tool TENCOR 6420 verwendet ein ausgeklügeltes bildgebendes Element, um Daten von bis zu 64 Wafern auf einmal zu sammeln und verarbeitet die Daten dann mit seiner spezialisierten Messtechnik-Software. Diese Software kann eine anspruchsvolle Analyse der Daten durchführen und detaillierte 3D-Bilder des Wafers zur Inspektion und Auswertung erzeugen. Darüber hinaus umfasst das Modell leistungsstarke Multitasking-Funktionen, die eine Vielzahl von Operationen parallel ausführen können. 6420 Geräte beinhalten auch eine umfassende Reihe von Softwareanwendungen, die die Produktivität in der Produktionsumgebung maximieren sollen. Diese benutzerfreundliche Softwareschnittstelle ermöglicht es den Betreibern, sich schnell an das System anzupassen und ihre Produktivität zu steigern sowie Funktionen bereitzustellen, die auf die spezifischen Bedürfnisse des Benutzers zugeschnitten sind. Das Kernstück der Einheit KLA/TENCOR 6420 ist die Software TENCOR E-Metrology Machine, eine leistungsstarke Kombination aus Algorithmen, Datenspeicher- und Analysefunktionen, die sich nahtlos in die gesamte Suite von KLA/TENCOR Messtechnik und Analysegeräten integrieren lassen. Diese leistungsstarke Kombinationssoftware ermöglicht beispiellose Genauigkeit und Wiederholbarkeit bei der Inspektion und Analyse der Wafertopologie, beim Scannen von Partikeln und Verunreinigungen, bei der Bestimmung subtiler Gradienten sowie bei der präzisen Messung und Abbildung von Funktionen auf dem Wafer. KLA 6420 ist eines der fortschrittlichsten verfügbaren Wafer-Prüf- und Messtechniksysteme und kombiniert die neuesten künstlichen Technologien mit höchster Präzision und Genauigkeit. Es wurde entwickelt, um die Grundlagen für einen umfassenden, genauen und reproduzierbaren Herstellungsvorgang von Halbleiterbauelementen zu schaffen. Es ist ein äußerst zuverlässiges und produktives Werkzeug, ideal für eine Vielzahl von Geräteherstellern, die höchste Leistung und Analyse benötigen.