Gebraucht KLA / TENCOR 6420 #293605952 zu verkaufen

KLA/TENCOR 6420 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein vollautomatisiertes Messsystem, das entwickelt wurde, um die wichtigsten Messgrößen von Halbleiterbauelementen auf Waferebene zu überprüfen und zu messen. Die KLA 6420-Einheit bietet umfassende Funktionen zur Fehlererkennung und -überwachung, um die höchste Qualität einer Vielzahl fortschrittlicher Prozessknoten und bahnbrechender Technologien sicherzustellen. TENCOR 6420 Maschine ist in der Lage, eine breite Palette von Inspektions- und Messaufgaben, von der Produktion-Linie Defekt-Inspektion, komplexe Wafer-Kartierung, Partikelerkennung und automatisierte Fehlerreparatur. Funktionen wie 3D-Mapping, kundenspezifische automatische Probenhandhabung, laserbasierte Kanten- und Fehlererkennung sowie hochauflösende Bildverarbeitung und CCD-Technologie sind nur einige der integrierten Messfähigkeiten, die in der 6420-Plattform entwickelt wurden. KLA/TENCOR 6420 verfügt über die Fähigkeit, eine Waferoberfläche mit ihren zahlreichen Messfähigkeiten und Präzisionsalgorithmen vollständig zu analysieren. Darüber hinaus ist KLA 6420 asset mit Laserreflektometrie ausgestattet, die durch optimierte Optik, Beleuchtung und Akquisitionshardware ermöglicht wird. Dies ermöglicht eine präzise Wafer-Abbildung, die den anspruchsvollsten Prozessanforderungen entspricht. Das Modell TENCOR 6420 ist auch in der Lage, Partikel zu detektieren und zu eliminieren. Seine High-Definition-Oblatenpartikelnentdeckungswerkzeuge helfen isolierten Oblaten von der potenziellen Einmischung, die durch Partikeln oder Verunreinigung verursacht ist, während sie noch im Stande ist, Partikeln zu identifizieren und zu isolieren, die die Operation des Stromkreises stören konnten. Dieses Merkmal ist nützlich, um die Qualität des gesamten Schaltungsdesigns zu gewährleisten. Darüber hinaus bietet 6420 Equipment eine breite Palette von Datenerfassungs- und Analysefunktionen, die darauf ausgelegt sind, genauere Daten für zuverlässigere Wafer-Charakterisierung und Prozesskontrolle zu liefern. Das KLA/TENCOR 6420 System ist für einen hohen Durchsatz optimiert und ermöglicht eine schnelle und effiziente Trendwende für Produktionstests. Darüber hinaus ist die Plattform KLA 6420 mit einer Reihe von Messtechnik-Systemen kompatibel, um die Funktionen zu erweitern und so mehr Genauigkeit und Leistung zu gewährleisten. Abschließend ist TENCOR 6420 Wafer Testing and Metrology Unit eine revolutionäre Plattform, die die anspruchsvollsten Anforderungen an die Halbleiterproduktion erfüllen kann. Das integrierte Feature-Set liefert eine genaue Analyse der Waferoberfläche und ihrer Eigenschaften und ermöglicht eine präzise Wafer-Kartierung sowie eine automatisierte Partikelerkennung und -beseitigung. Damit ist 6420 Maschine die ideale Plattform für eine breite Palette von Prozessknoten und fortschrittlichen Technologien.