Gebraucht KLA / TENCOR 7200 Surfscan #293664994 zu verkaufen

KLA/TENCOR 7200 Surfscan ist eine komplette Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die den Anforderungen der Halbleiterindustrie gerecht wird. Es ist in der Lage, eine breite Palette von Waferformaten zu testen, die von Standard-2-8-Zoll-Wafern bis hin zu großen und ultradünnen Wafern reichen. Dieses System bietet eine umfassende Palette fortschrittlicher Wafer-Test- und Messtechnik-Tools, darunter optischeCritical Dimension (CD) -Messungen, optische Profil- (OP) -Messungen, Laserbreitenmessungen (LW), Rauschreduktionseinheit (NRS) und Echtzeit-Defekt-Lokalisierung (RTDL). KLA 7200 Surfscan ermöglicht eine umfassende Prüfung und Analyse von Wafern sowohl von der Ober- als auch von der Unterseite. Es nutzt seine patentierte Automated Scanning Laser Machine (ASLS), um Muster über einen gesamten Wafer gleichzeitig zu messen und zu analysieren. Die Kombination aus fortschrittlichen Tools und intuitiven Softwarefunktionen ermöglicht es TENCOR 7200 Surfscan, schnell umfassende Tests und Analysen durchzuführen und so wertvolle Zeit und Geld zu sparen. 7200 Surfscan bietet ein vielseitiges CD/OP-Messwerkzeug mit einer Weitfeldmikroskopie, die eine schnelle seitliche Musterprüfung, CD-Messungen und optische Profilmessungen durchführen kann. Das Modell bietet auch ein Laser Width Measurement Module, das eine Reihe von Breiten von Linien/Leerzeichen auf einem Wafer mit einer berührungslosen basierten Messung messen kann. Die Geräuschminderungsausrüstung (NRS) von KLA/TENCOR 7200 Surfscan ermöglicht die automatische Korrektur von Messungen für externe Geräuschfaktoren wie Hintergrundgeräusche, Randeffekte und Störungen. Die Echtzeit-Fehlerlokalisierungsfunktion bietet eine genaue Fehlerortungsanalyse sowohl in kartesischen als auch in polaren Koordinaten. KLA 7200 Surfscan bietet auch eine Vielzahl weiterer Werkzeuge wie optische Fehleranalyse, spezialisierte Untersuchungen und statistische Prozesskontrolle. Das spezielle Untersuchungsmerkmal ermöglicht eine weitere Analyse von Fehler- oder Musterstrukturen, die mit optischen Messungen nicht leicht aufgedeckt werden können. Die statistische Prozesssteuerung ermöglicht einen statistischen Vergleich von Waferdaten zur Prozessüberwachung und -steuerung. TENCOR 7200 Surfscan unterstützt eine Vielzahl von Hardware-Optionen, einschließlich Sondenkarten, Wafer-Handling-Systeme, saubere Stationen und viele andere. Mit diesen Hardwareoptionen können Benutzer das System an ihre spezifische Anwendung anpassen. Darüber hinaus bietet das Gerät eine breite Palette von Softwareprogrammen, die entwickelt wurden, um den hohen Anforderungen der Halbleiterindustrie gerecht zu werden. Insgesamt ist 7200 Surfscan eine umfassende und hochentwickelte Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die speziell für die heutige anspruchsvolle Halbleiterindustrie entwickelt wurde. Seine Kombination aus einzigartigen Funktionen, ausgefeilter Software und Hardwareoptionen machen es zu einer ausgezeichneten Wahl, um eine genaue Analyse und Prüfung der heutigen komplexen Waferformate sicherzustellen.