Gebraucht KLA / TENCOR 7600M Surfscan #293626880 zu verkaufen

ID: 293626880
Weinlese: 1994
Inspection system 1994 vintage.
KLA/TENCOR 7600M Surfscan ist eine führende Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für eine Vielzahl von Anwendungen in der Halbleiterindustrie. Es kann eine breite Palette von Attributen auf Halbleiterscheiben messen, analysieren und inspizieren, einschließlich Topographie, Rauheit, Defektivität, Overlay und kritische Dimension (CD). Das System bietet eine vollständige Palette von Software- und Hardwarefunktionen, einschließlich hochauflösender Bildgebung, automatischer Bildanalyse und detaillierter Fehlerauflistung, damit Benutzer schnelle und genaue Entscheidungen in der Waferprozesskontrolle treffen können. Die Hauptkomponenten von KLA 7600M Surfscan sind das Unit Control Module (SCM), der Testkopf, Sehgeräte und die Bewegungsmaschine. Das SCM besteht aus den Software- und Hardwarekomponenten, die zur Steuerung des Werkzeugs verwendet werden. Es kann mit externen Testsystemen und Datenverarbeitungssystemen verbunden werden, so dass Benutzer Testergebnisse übertragen und archivieren können. Der Prüfkopf ist die Hardware-Komponente, die für die Abbildung und Erkennung von Defekten auf der Halbleiterscheibe verantwortlich ist. Es arbeitet mit zwei Kameras, um sowohl Kontakt- als auch berührungslose Bildgebung zu ermöglichen. Die Visionseinheiten dienen zur Verbesserung der Auflösung der Bilder mit geringer Vergrößerung sowie zur Mustererkennung und Fehlererkennung. Das Motion Asset ermöglicht die Positionierung und Steuerung der Waferoberfläche, um eine genaue Bildgebung zu ermöglichen. TENCOR 7600M Surfscan ist in der Lage, Wafer aus Materialien wie Silizium, Glas und verschiedenen Polymeroberflächen zu analysieren. Seine einzigartige Bildgebungstechnologie, Bildnähte und Intensitätskalibrierung ermöglichen es Anwendern, überlegene Präzision und Genauigkeit ohne Eingriff des Bedieners zu erzielen. Dieses Modell verfügt über mehrere erweiterte Anwendungen zur Fehlererkennung und -kontrolle, einschließlich klassifiziererbasierter Fehlererkennung zur effizienten Sortierung und einem Funktionserkennungsmodul zur Identifizierung kritischer Prozessparameter. Es hat auch eine Reihe von Qualitätsprüfungs-Konfigurationstools, um Tests an spezifische Kundenanforderungen anzupassen. Darüber hinaus ist das Gerät mit einer Vielzahl von Sicherheits- und Umweltschutzfunktionen ausgestattet. 7600M Surfscan ist ein zuverlässiges und vielseitiges Wafer-Prüf- und Messsystem, das in einer Vielzahl von Anwendungen hochgenaue Ergebnisse liefert. Die fortschrittlichen und effizienten Gerätekomponenten wie SCM, Testkopf, Vision und Bewegungsmaschine bieten eine umfassende und präzise Lösung für die Wafer-Prozesssteuerung. Mit diesem Tool können Anwender überlegene Präzision und Genauigkeit erreichen, den Wafer-Testprozess automatisieren und Kosten senken.
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