Gebraucht KLA / TENCOR 7700 Surfscan #158595 zu verkaufen

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KLA / TENCOR 7700 Surfscan
Verkauft
ID: 158595
Wafergröße: 8"
Wafer inspection system, 8" Can accommodate wafers from 2 to 8" dia. Sensitivity - Particle: .117 micro-meter dia. latex spheres with >90 percent capture rate Haze: 1 ppm minimum Cassette to cassette handling Detects defects as small as 0.15 µm Defects below 0.2 µm can be detected on many process levels, including nitride, oxide, polysilicon and TEOS films.
KLA/TENCOR 7700 Surfscan ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine zuverlässige und leistungsstarke Lösung für die Kontrolle der Oberflächenqualität von Wafern bietet. Dieses System umfasst ein optisches Mikroskop mit hohem Durchsatz, das eine hochauflösende Bildgebung, automatisierte Inspektion und schnelle Datenanalyse bietet. Mit einem beeindruckenden Sichtfeld von bis zu 20 mm ermöglicht diese Einheit ein schnelles und genaues Scannen ganzer Waferoberflächen. KLA 7700 Surfscan verwendet mehrere fortschrittliche Technologien, um qualitativ hochwertige Leistung zu gewährleisten. Es verfügt über eine integrierte Strobed-Lasermaschine, die eine detaillierte High-Definition-Abbildung der Waferoberfläche sowohl im Hellfeld als auch im Dunkelfeld-Bildgebungsmodus ermöglicht. Dieses Tool verwendet auch mehrere fortschrittliche Algorithmen für automatisierte Fehlererkennung und Klassifizierung. Darüber hinaus bietet TENCOR 7700 Surfscan eine breite Palette automatisierter Messtechnik, darunter On-Wafer-Fokus, kritische Maßmessungen, Kanten- und Kantenprofilmessungen, 3-dimensionale Messungen und vieles mehr. 7700 Surfscan bietet zudem eine zuverlässige und einfach zu bedienende Softwareplattform. Diese Software bietet eine intuitive Benutzeroberfläche, automatisierte Fehlerüberprüfungsfunktionen und leistungsstarke Datenanalysetools. Darüber hinaus verfügt dieses Asset über Netzwerkkonnektivität und Datenübertragungen, um die Verwaltung der Wafer-Test- und Analysedatenbanken zu erleichtern. Qualitätskontrolldaten können dann sortiert und analysiert werden, um Echtzeit-Feedback zur Leistung und Zuverlässigkeit der Waferoberfläche zu liefern. Insgesamt ist KLA/TENCOR 7700 Surfscan eine robuste und hochwertige Wafer-Test- und Messtechnik-Lösung. Seine fortschrittliche Bildgebungs- und Erkennungstechnologie, gepaart mit seiner intuitiven Softwareplattform und robusten Netzwerkkonnektivität, macht dieses Modell zu einem unschätzbaren Vorteil in jeder Wafer-Test- und Analyseumgebung. Mit seiner leistungsstarken Leistung und seinem benutzerfreundlichen Design bietet KLA 7700 Surfscan eine zuverlässige und effiziente Lösung, um die Qualität und Zuverlässigkeit von Wafern sowohl in der Forschung als auch in industriellen Anwendungen sicherzustellen.
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