Gebraucht KLA / TENCOR 7700 Surfscan #293653454 zu verkaufen

ID: 293653454
Weinlese: 1996
Wafer inspection system 1996 vintage.
KLA/TENCOR 7700 Surfscan ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die nicht nur zur Messung, sondern auch zur Inspektion, Qualifizierung und Charakterisierung einer Reihe von Probensubstraten entwickelt wurde. Diese umfassende Plattform ermöglicht die schnelle Analyse verschiedener Materialien für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich Halbleiter-, Flachbildschirm, Solar- und Speichergeräteproduktion. Das Surfscan-System KLA 7700 wird von einem fortschrittlichen automatisierten Mikroskop angetrieben, das hochwertige optische Messungen ermöglicht und eine detaillierte Bildgebung und Analyse ermöglicht. Mit überlegenen 3D-Messtechnik-Fähigkeiten und einer 5-Achsen-Hardware-Bühne kann das Gerät eine Vielzahl von Wafer-Schnittstellen und Oberflächentopographien messen. Ein automatisierter Algorithmus zur Erkennung von Funktionen ermöglicht den Vergleich mehrerer Messparameter zur Definition von Qualitätsmessgrößen, um die höchste Ausbeute an Produkten zu gewährleisten. Verbesserte Bildverarbeitungsalgorithmen erweitern die Maschinenfunktionen weiter, indem sie die Auswertung einer Reihe von nanoskaligen Merkmalen ermöglichen, einschließlich Brennweite, Kantenrauhigkeit und Mustergrößenmessung. Das Tool verfügt auch über eine hohe Flexibilität beim Abrufen und Anzeigen von Daten, mit der Fähigkeit, Daten in verschiedenen Formaten zu exportieren, einschließlich PDF, .plt, .dat und .xls. Eine integrierte grafische Benutzeroberfläche und eingebettete Software ermöglichen die schnelle Analyse mehrerer Proben. TENCOR 7700 Surfscan ist mit einem modernen leichten Stahlrahmen und einer modularen Architektur für 360 ° -Zugänglichkeit konstruiert, die eine einfache Integration in bereits vorhandene Automatisierungssysteme ermöglicht. Diese Konfiguration erfordert eine minimale Wartung, die eine hohe Zuverlässigkeit und beste Verfügbarkeit ermöglicht. 7700 Surfscan ist hochgradig konfigurierbar mit einer Reihe von Optionen, darunter der 7720 Automated Wafer Mapper für erhöhten Probendurchsatz und das 7700 Edge Calibration Kit für eine präzisere Kalibrierung des Assets am Substratkantenbereich. Darüber hinaus stehen mehrere Upgrade-Pakete zur Verfügung, darunter automatisierte Ausrichtung, Autofokus, Overlay-Mapper sowie eine breite Palette von Messtechnologien. Mit seiner robusten Leistung und seinen fortschrittlichen Eigenschaften ist KLA/TENCOR 7700 Surfscan ein zuverlässiges, leistungsstarkes Modell, das sich für den Einsatz in den anspruchsvollsten messtechnischen Anwendungen eignet.
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