Gebraucht KLA / TENCOR 7700 Surfscan #293662764 zu verkaufen

KLA/TENCOR 7700 Surfscan ist ein leistungsfähiges Wafertest- und Messtechniksystem. Es ist für den Einsatz in Halbleiterherstellungs- und Testlabors konzipiert. KLA 7700 Surfscan bietet eine integrierte Suite von Analysewerkzeugen, die eine genaue und präzise Charakterisierung von Materialien und Substraten ermöglichen. TENCOR 7700 Surfscan bietet Forschern und Ingenieuren die umfassendsten und genauesten Werkzeuge, um komplexe mikroelektronische Strukturen und Wafer zu identifizieren, zu charakterisieren und zu charakterisieren. Es verwendet die neuesten Deep-Learning-Algorithmen, um präzise, dreidimensionale, zerstörungsfreie Oberflächenanalysen von Materialien bereitzustellen. Das System verfügt über eine schnelle Durchsatzgeschwindigkeit, die es ermöglicht, mehrere Wafer in einer Sitzung zu testen und die Ergebnisse vollständig zu visualisieren. Es bietet auch eine hohe Auflösung und Genauigkeit der Bildgebung, die die Detektion und Charakterisierung von Nanometer-Skalenstrukturen ermöglicht. 7700 Surfscan bietet erweiterte Messfunktionen, einschließlich Tiefenprofilanalyse, Spannungskontrast-Bildgebung, frequenzabhängige Scans und Fourier-Transformationsspektroskopie. Seine konfigurierbaren Messparameter ermöglichen es Benutzern, die Inspektion für ihre spezifischen Anwendungsbedürfnisse zu optimieren. Es bietet auch Funktionen wie kontaktlose Wafer-Sondierung, High-Speed-Datenerfassung, Multi-Channel-Scan und hohen Datendurchsatz. KLA/TENCOR 7700 Surfscan System kann mit einer Reihe von Optionen angepasst werden, einschließlich Mustererkennungsfunktionen, eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche, eine breite Palette von Sonden für genaue Bilderfassungen und verschiedene Signalerfassungsmodi. Es ist in der Lage, hochauflösende Bilder und Metadaten in einem einzigen Durchgang zu erfassen und zu verarbeiten, was eine genaue Charakterisierung der Struktur auf der Waferoberfläche ermöglicht. KLA 7700 Surfscan ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Wafer-Prüf- und Messtechnik-Tool, das die umfassendste Analyse von Waferoberflächen bietet. Es ermöglicht Ingenieuren und Forschern, komplexe mikroelektronische Strukturen und Substrate zu identifizieren, zu charakterisieren, zu beheben und zu optimieren. Seine erweiterten Funktionen und konfigurierbaren Parameter machen TENCOR 7700 Surfscan ideal für verschiedene Wafer-Testanwendungen.