Gebraucht KLA / TENCOR 7700 Surfscan #9042217 zu verkaufen

KLA/TENCOR 7700 Surfscan ist ein Oberflächenprüf- und Messtechnik-System zur präzisen Messung, Inspektion und Charakterisierung fortgeschrittener mikroelektronischer Substrate (Wafer). Es bietet Waferoberflächenanalyse auf Waferdicke und Ebenheit, KE-Größe, Oberflächengüte/Textur und Sauberkeit. Diese Einheit ist in der Lage, sowohl auf der Makro- als auch auf der Nanoskala mit hoher Genauigkeit zu messen. KLA 7700 Surfscan-Maschine erfasst Wafer-Muster-Daten mit 3D-optischen und 2D-optischen Techniken. Die optische 3D-Technik erfasst topographische Oberflächendaten des Wafers, die die Messung von Mikrofehlern wie Kratzern, Beulen und Hügeln ermöglichen. Die optische 2D-Technik erfasst Daten aus einem flachen Sichtfeld des Wafers und misst die gesamte Mustereinheitlichkeit bzw. „Ebenheit“. Das Werkzeug wird durch Hochleistungs-Analysetechnologie angetrieben, die in der Lage ist, Merkmale von bis zu 0,2 μ m Größe zu messen. TENCOR 7700 Surfscan ist auch mit fortschrittlichen Bildvisualisierungs- und Analysetools ausgestattet, die eine einfachere Dateninterpretation ermöglichen. Die durch die 7700 erzeugten Daten werden durch proprietäre Algorithmen und statistische Modelle analysiert, die dazu beitragen, die Produktleistung und den Ertrag über Verarbeitungs- und Produktionsschritte hinweg zu überprüfen. Durch automatisierte Messungen in situ trägt 7700 Surfscan dazu bei, das Risiko menschlicher Fehler und Variabilität zu reduzieren und gleichzeitig den Durchsatz und die Produktionsausbeute zu erhöhen. Darüber hinaus umfasst das Asset die Auto-Focus-Technologie zur Optimierung von Kalibrierungsverfahren und integriert erweiterte Mustererkennung für eine verbesserte Erkennung von Gerätefunktionen. Insgesamt ist KLA/TENCOR 7700 Surfscan aufgrund seiner hohen Genauigkeit, der Fähigkeit, Mikrofehler zu erkennen, automatisierten Prozessen und fortschrittlichen Bildvisualisierungswerkzeugen ein ideales Modell für Wafertests und Messtechnik. Mit seiner Fähigkeit, Merkmalsgrößen und Oberflächenveredelungen genau zu messen, ist KLA 7700 Surfscan ein wesentliches Werkzeug für die Herstellung von Wafern und die fortschrittliche Halbleiterproduktion.