Gebraucht KLA / TENCOR 7700M Surfscan #131420 zu verkaufen

KLA/TENCOR 7700M Surfscan ist eine hochpräzise, Hochgeschwindigkeits-Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für genaue Oberflächenmessungen und Fehlerinspektionen auf verschiedenen Arten von Halbleiterscheiben entwickelt wurde. Es hat den höchsten Durchsatz und die höchste Auflösung in der Branche und wird von Halbleiterherstellern verwendet, um Qualität in ihren Produkten zu gewährleisten. KLA 7700M Surfscan umfasst mehrere fortschrittliche Technologien, die es ermöglichen, seine hohe Leistung zu erreichen. Herzstück des Systems ist die Multi-Channel Detection Architecture (MDA). Dies ist ein optisches Design, das fortschrittliche Sensortechnologie und Bildverarbeitungsalgorithmen verwendet, um ein Bild der Oberfläche des Wafers mit beispielloser Genauigkeit zu erzeugen. Das Gerät nutzt auch eine spezielle hochauflösende Abtaststufe, die es ermöglicht, die Oberfläche des Wafers schnell mit einem hochgenauen zweidimensionalen Rastermuster abzubilden. Darüber hinaus umfasst es eine automatisierte Defektklassifizierungsmaschine, die verwendet werden kann, um Fehler auf dem Wafer mit Hilfe von Machine Learning-Algorithmen zu identifizieren und zu lokalisieren. Das Tool ist sehr anpassungsfähig und kann verwendet werden, um eine Vielzahl von Wafertypen zu messen, einschließlich Speicher, Logik, logisch integrierte Schaltungen und Display-Anwendungen. Die Messgrößen sind auch je nach Art des zu prüfenden Wafers einstellbar. Es ist in der Lage, mehrere Metriken zu sammeln, einschließlich Scanabstand, Positionsgenauigkeit, Oberflächenrauhigkeit und Fehlergröße, die alle verwendet werden können, um die Qualität des Wafers zu beurteilen. TENCOR 7700M Surfscan ist ein unschätzbares Werkzeug für jedes Halbleiterunternehmen, das die Qualität und Zuverlässigkeit seiner Produkte maximieren möchte. Es ist der einzige Wafer-Test und Metrologie-Asset seiner Art und bietet beispiellose Genauigkeit und Geschwindigkeit, während auch sehr anpassungsfähig an verschiedene Wafer-Typen. Durch die Bereitstellung zuverlässiger und genauer Mittel zur Beurteilung der Waferqualität kann das Modell dazu beitragen, dass die Herstellung konsistent bleibt und qualitativ hochwertige Produkte hergestellt werden.