Gebraucht KLA / TENCOR 7700M Surfscan #145603 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
KLA/TENCOR 7700M Surfscan ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die automatisierte, hochpräzise Oberflächenanalyse entwickelt wurde. Das System nutzt eine automatisierte Inspektionsplattform, um eine umfassende Funktionalität wie verbesserten Durchsatz und Prozesssteuerung zu ermöglichen. KLA 7700M Surfscan zeigt eine, Hochleistungsdoppelachsenpositionierungseinheit mit einem 8 Zoll x 8 Zoll x 0.5 Zoll Feld der Ansicht. Auf diese Weise kann es sowohl für großflächige Wafertests als auch für feinmaßstäbliche Analysen von Merkmalen auf den Waferoberflächen verwendet werden. Die Maschine bietet auch hochauflösende Aberrationen und Farbgittermessungen zur Maximierung der Ausbeute sowie optische Profiler und einen Partikelzählmodus, der Partikel bis zu 1 μ m detektieren kann. Das fortschrittliche Scanwerkzeug von TENCOR 7700M Surfscan wurde entwickelt, um variable Wafergrößen und Krümmungen bis zu einem Durchmesser von 8 Zoll zu unterstützen. Darüber hinaus kann es verwendet werden, um jede Probe mit einer glatten Oberfläche zu inspizieren, einschließlich flacher, beschichteter oder geätzter Oberflächen sowie ungleichmäßiger Oberflächen oder Gegenstände mit unterschiedlicher Form, wie gebrannte Leiterplatten oder Kunststoffprodukte. 7700M Beispielausrichtungsfunktion von Surfscan ermöglicht eine einfache und genaue Positionierung von Proben im Asset. Dies ist möglich durch automatische Ausrichtung der Probe in Bezug auf die Kamera und Betrachtungsstrahlen, typischerweise für Messungen kleiner als 1 mm. Darüber hinaus verfügt KLA/TENCOR 7700M Surfscan über eine Reihe von Softwarefunktionen für die Waferinspektion. Es ist in der Lage, eine breite Palette von Messergebnissen zu erhalten, mit anpassbaren Datenanzeigeoptionen und Unterstützung für erweiterte Datenanalysen. Darüber hinaus bietet das Modell robuste Datenerfassungs- und Reporting-Funktionen, um eine einfache und sichere Speicherung der Ergebnisse zu ermöglichen. Insgesamt bietet KLA 7700M Surfscan eine umfassende Reihe von Funktionen für Wafertests und Messtechnik, die den Ertrag maximieren und die Prozesskontrolle verbessern sollen. Seine automatisierte Ausrüstung behandelt verschiedene Wafergrößen und Materialien und bietet gleichzeitig erweiterte Messfunktionen und Softwarefunktionen für den manuellen oder automatisierten Betrieb. Das System ist in der Lage, eine Reihe von Daten zu erhalten, um eine umfassende Analyse und Berichtsgenerierung für eine erhöhte Prozesskontrolle zu ermöglichen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor