Gebraucht KLA / TENCOR 7700M Surfscan #293626887 zu verkaufen

KLA/TENCOR 7700M Surfscan ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik für die Halbleiterherstellung. Dieses System verwendet ein kurzwelliges Rasterprojektionsmikroskop mit einer CCD-Kamera, um das Profil einer Geräteoberfläche mit Sub-Nanometer-Genauigkeit zu messen. Das Gerät bietet Hochgeschwindigkeitsbilder von Wafer-Topographien bei verschiedenen Vergrößerungen und hochauflösender Abbildung extrem kleiner Strukturen. Es ist in der Lage, Erkennung, Bildnähte und komplexe Overlay-Messungen für eine präzise Ausrichtung. KLA 7700M Surfscan bietet dem Anwender eine intuitive grafische Benutzeroberflächenplattform mit einer Vielzahl erweiterter Funktionen. Es ermöglicht die einfache Anpassung der Anzeige- und Messeinstellungen, die Überwachung des Fortschritts und die Überprüfung der erfassten Daten durch Diagramme, Bilder und Tabellen. Das 7700M bietet auch eine Vielzahl von messtechnischen Verbesserungen, wie Focus-Tilt Correction, Auto-Align Machine und Multi-Spectral Imaging, um qualitativ hochwertige Ergebnisse zu erzielen. TENCOR 7700M Surfscan ist in der Lage, Größen und Identifikationen von Merkmalen sowie Ebenheit, Oberflächenrauhigkeit und Konturrauhigkeitsanalysen zu messen. Darüber hinaus ist es hochpräzise und präzise bei der Kantenerkennung und -ausrichtung und somit die perfekte Wahl für präzise messtechnische Anwendungen. Das Tool ist auch äußerst vielseitig und bietet Benutzern die Möglichkeit, mehrere Systeme zu verbinden, um ein vollautomatisches Wafer-Handling-Asset zu erstellen. Dieses einzelne automatisierte Modell kann mehrere Wafer gleichzeitig testen und messen, um den Durchsatz erheblich zu erhöhen. 7700M Surfscan-Ausrüstung bietet ein komplettes Werkzeugset für die Analyse und statistische Prozesskontrolle, mit Messungen für den Online- und Offline-Einsatz einschließlich produktionstechnischer Leistungscharakterisierung, lokaler Dickengleichförmigkeit und schneller Stanzsortierung. KLA/TENCOR 7700M Surfscan ist ein fortschrittliches Wafer-Test- und Messtechnik-System, das dem Anwender extreme Präzision und modernste Analysefunktionen bietet. Es ist in der Lage, schnelle Bildgebung, hochauflösende Merkmalserkennung, Kantenerkennung und komplexe Overlay-Messungen, so dass es die perfekte Wahl für höchste Qualität Präzisionsanwendungen. Der Benutzer kann mehrere Systeme anschließen, um eine vollautomatische Wafer-Handhabungseinheit zu erstellen, die einen erhöhten Durchsatz und eine vollständige statistische Prozesskontrolle ermöglicht. Insgesamt dient KLA 7700M Surfscan als wertvolles Werkzeug für jede Halbleiterherstellungsanlage.