Gebraucht KLA / TENCOR 7700M Surfscan #293627334 zu verkaufen

ID: 293627334
Weinlese: 1996
Wafer inspection system 1996 vintage.
KLA/TENCOR 7700M Surfscan ist eine hochpräzise Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Überwachung und Kontrolle der Qualität von Geräteherstellungsprozessen. Dieses System ermöglicht schnelle und genaue Messungen von Topographie, Profil, kritischen Abmessungen und nanoskaligen Merkmalen. KLA 7700M Surfscan verwendet ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), um einen Stufenkeil, ein Maskenmuster oder ein Wafersubstrat zu scannen. Dieses Rasterelektronenmikroskop verfügt über erweiterte Funktionen wie Autofokus, eine Hochspannungsversorgung, einen Röntgendetektor, einen Sekundärelektronendetektor und eine erweiterte Steuerungssoftware. Die fortschrittlichen bildgebenden Funktionen des Geräts werden durch seine hochauflösende Zoomoptik und seine leistungsstarken Analysewerkzeuge ergänzt, darunter die Extraktion statistischer Funktionen, die Fehlerklassifizierung, die Kontaminationsanalyse, das Ertragsmanagement, die 3D-Visualisierung, Videomessungen und mehr. Sobald das Rasterelektronenmikroskop den Datenerfassungsprozess abgeschlossen hat, ermöglicht es TENCOR 7700M Surfscan-Maschine Benutzern, die Daten zu analysieren und auszuwerten sowie gegebenenfalls Korrekturmaßnahmen zu ergreifen. Diese Bildgebungs- und Analysedaten können bei der Ermittlung optimaler Ätzraten, der Entwicklung von Protokollen für Prozessverbesserungen, der Vorhersage von Fehlerraten und der Vermeidung möglicher Ertragsverluste helfen. 7700M Surfscan bietet auch ein automatisiertes Werkzeug zur Prober-Schnittstelle an, das präzise Messungen wie kritische Abmessungen, Topographie und Rauheit von vollständig geätzten Schaltungen ermöglicht. Dazu gehören auch eine Hochleistungskamera und eine fortschrittliche Optik für präzise 3D-Scanfunktionen. Durch Einblicke in den Herstellungsprozess und die integrierte Messtechnik bietet KLA/TENCOR 7700M Surfscan eine leistungsstarke und zuverlässige Lösung zur Überwachung, Verfolgung und Kontrolle der Qualität in der Halbleiterindustrie. Dieses Modell wurde entwickelt, um Benutzern die genauesten und zuverlässigsten Analysedaten zu liefern, damit sie die höchstmöglichen Qualitätsstandards einhalten und das Risiko kostspieliger Nacharbeiten, Ausfallzeiten, Schrott und Ertragsverluste aufgrund von Fehlern oder Ineffizienzen reduzieren können.
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