Gebraucht KLA / TENCOR 8450 #9316172 zu verkaufen

ID: 9316172
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8450 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es wurde entwickelt, um den anspruchsvollen Anforderungen der Halbleiter- und MEMS-Industrie zur präzisen Prüfung und Messtechnik von Wafern gerecht zu werden. Das System kombiniert eine Vielzahl von Optionen und Funktionen, um Mess- und Analysefunktionen mit hoher Genauigkeit bereitzustellen. KLA 8450 bietet Multi-Sensor-Inspektionsmöglichkeiten, hohe Geschwindigkeit, Präzision und minimal aufdringliche Tests. Es verwendet integrierte optische und mechanische Sensoren, um hochgenaue Ergebnisse zu gewährleisten. Hochvergrößerungsoptiken ermöglichen eine klare Abbildung der Waferoberfläche. Das Gerät wurde entwickelt, um leistungsstarke Bildverarbeitungsfunktionen bereitzustellen, die eine automatisierte Datenanalyse und einen zeitlichen Vergleich der Waferoberfläche ermöglichen. TENCOR 8450 verwendet eine selbstlernende, ultraempfindliche und vielseitige Bildgebungsmaschine, um verschiedene Wafer-Oberflächen-Merkmale zu messen. Das Tool kann mit mehreren Scanmethoden wie Flächenmittelung, Zeilenmittelung oder Einzelpunktscannen konfiguriert werden. Es kann sowohl einfache als auch komplexe Topologie messen und ermöglicht eine detaillierte Analyse großer Wafer. Das Asset bietet auch eine automatisierte Zuordnung der Waferoberfläche zum einfachen Vergleich oder Vergleich mit festgelegten Kriterien. 8450 verfügt über ein integriertes, patentiertes Auto-Sampling-Modell. Dadurch wird sichergestellt, dass die Wafer in beliebiger Reihenfolge gleichmäßig getestet werden. Das Gerät ist mit einer Vielzahl von anpassbaren Steuerelementen ausgelegt, so dass der Benutzer den Testprozess optimieren kann. KLA/TENCOR 8450 bietet zudem ein breites Spektrum an Datenerfassungs-, Analyse- und Fernbedienungsfunktionen. Zu den Datenerfassungsoptionen zählen automatisierte und halbautomatisierte Wafer-Dimensionierung, Oberflächenrauhigkeit und Konturprofilierung. Die Analysefunktionen umfassen allgemeine Wafer-Oberflächen-Krümmungsmessungen, Benetzungswinkel und Fehleranalysen. Das System bietet auch eine Reihe von halbautomatischen und automatisierten Steuerungsfunktionen. KLA 8450 ist ein Entwurf, um umfassende Test- und Messtechnikfunktionen für eine Vielzahl von Halbleiter- und MEMS-Anforderungen bereitzustellen. Seine Fähigkeiten und Funktionen liefern genaue und zuverlässige Ergebnisse, so dass es eine ideale Wahl für Wafer-Level-Tests. Das Gerät kann mit anderen Geräten für umfassende Tests und Messtechnik integriert werden. Seine benutzerfreundliche Steuerung und automatisierte Prozesse machen die Maschine einfach zu bedienen und zu warten.
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