Gebraucht KLA / TENCOR 8450 #9316173 zu verkaufen

ID: 9316173
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8450 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung. Dieses System ist für effiziente, zuverlässige und genaue Wafer-Level-Tests mit seinen fortschrittlichen Optik- und Wafer-Immersionsfunktionen konzipiert. Es ist eine vollautomatische Suite für Wafer-Tests und -Messungen, die es ideal für jedes große Prozess- oder Forschungslabor auf Produktionsebene macht. KLA 8450 verwendet eine fortschrittliche optische Einheit, um eine Vielzahl von Teststrukturen, einschließlich kritischer und komplexer Gerätestrukturen, schnell zu erkennen, zu messen und zu überwachen. Darüber hinaus hat es die Flexibilität, spezielle Bauelemente wie Hochfrequenztransistoren, Lichtwellenleiter, Transistoren und andere Optoelektronik zu messen. TENCOR 8450 Maschine bietet schnelle Wafer Scannen und Bildaufnahme, sowie eine hohe Blendenverhältnis, die zu erhöhtem Durchsatz führt. Darüber hinaus sorgt das präzise Messtechnik-Tool für wiederholbare Ergebnisse, die eine Qualitätskontrolle der Produktion und eine verbesserte Ausbeute ermöglichen. Das Asset bietet auch mehrere Muster und Funktionen Formen und Größen, und für weitere Flexibilität ist es mit einer branchenführenden Auswahl an Werkzeugmesstechniken wie Ellipsometrie, 100KV SEM und Spektroskopie ausgestattet. 8450 ist mit einer Reihe von Werkzeugtypen wie Detektoren, Bereichen und Bildscannern sowie Optionen für Fluss-, Neigungs- und Reflexionsmodule kompatibel. Das Modell kommt auch mit einer VariTherm Heizung, die punktgenaue Wärmemanagement jeder Wafer-Scan im Prozess bietet. Darüber hinaus sorgt die ausgeklügelte Automatisierung der Anlagen für höchste Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Es ist auch mit einem großen Monitor ausgestattet, der es ermöglicht, die Ergebnisse sofort zu sehen und auf die Live-und gespeicherten Bilder, Testdaten und Alarmprotokolle zuzugreifen. Zusammenfassend ist KLA/TENCOR 8450 ein fortschrittliches, vollautomatisches System für Wafertests und Messtechnik. Seine Hochleistungsoptik, seine hervorragenden Automatisierungsfähigkeiten und sein breites Spektrum an Messtechniken machen es zu einer idealen Wahl für Produktions- und Forschungszwecke. Seine leistungsstarken Eigenschaften bieten die Genauigkeit und Wiederholbarkeit, die für die Erzielung der höchsten Ausbeute erforderlich sind.
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