Gebraucht KLA / TENCOR Acrotec 6020 #9299334 zu verkaufen

KLA/TENCOR Acrotec 6020 Wafer-Prüf- und Messtechnikgeräte verwenden optische Techniken und fortschrittliche Algorithmen, um hochgenaue, hochbandbreite Charakterisierung und Analyse von Wafern auf Test-, strahlungsgehärteten und hochleistungsfähigen Halbleitermaterialien bereitzustellen. Dieses System bietet einen abrasiven, effizienten Ansatz zur Suboberflächenanalyse von Wafern sowie eine umfassende Palette von Software-, Hardware- und Messwerkzeugen, die detaillierte, bequeme und wiederholbare messtechnische Messungen und Datenanalysen ermöglichen. KLA Acrotec 6020 verfügt über ein großes Sichtfeld mit hoher seitlicher und vertikaler Auflösung und bietet eine große Bewegungsvielfalt, um eine Vielzahl von Waferkantenformen zu messen. Es enthält optischen Zoom und automatischen Fokus, sowie fortschrittliche Bildprozessionstechnologie, die genaue und wiederholbare Messungen ermöglichen. Es verfügt auch über einen zweidimensionalen Laserverschiebungssensor für erweiterte Planaritäts- und kritische Dimensionsmessungen (CD). Die Einheit verbindet eine, Hochleistungsmehrwinkelbildaufbereitungsmaschine mit einem starken 3-Achsen-Scan-Kopf, der mehr als 7 cm2 pro Bewegung überqueren kann, hohe ausfallende Raten berücksichtigend. Es ist auch in der Lage, bis zu zwei Gigabyte unkomprimierte Bilddaten pro Messung zu produzieren, was eine deutlich verbesserte Genauigkeit und Wiederholbarkeit bietet. Darüber hinaus verfügt TENCOR 6020 über ein leistungsstarkes, intuitives Beschriftungs- und Anmerkungs-Toolkit, mit dem Benutzer Funktionen auf Wafern für Datenvergleiche schnell identifizieren und kommentieren können. Es ermöglicht auch den automatischen Vergleich von Funktionen über mehrere große Gruppen von Wafern und kann mit vernetzten Computern verbunden werden, um Ergebnisse zu übertragen oder externe Analysen zu verwenden. Messtechniker, Forscher und Techniker können Acrotec 6020 nutzen, um eine Vielzahl von Wafern und strahlungsgehärteten Materialien zu messen, zu charakterisieren und zu analysieren. Seine genauen und wiederholbaren Messungen, kombiniert mit seinen intuitiven Kennzeichnungs- und Anmerkungsfunktionen, machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug in Wafer-Test- und Metrologielabors. Mit KLA/TENCOR 6020 ist eine fortschrittliche, effiziente Analyse von Wafern jetzt einfacher und zugänglicher als je zuvor.