Gebraucht KLA / TENCOR AIT 8010 #293747976 zu verkaufen

KLA/TENCOR AIT 8010 Wafer-Prüf- und Messsystem ist ein hochentwickeltes Wafer-Prüf- und Messwerkzeug, das sowohl für die Prozesssteuerung als auch für die Gerätecharakterisierung verwendet wird. Es bietet komplette 2D- und 3D-Bildgebung für Standardmuster- und Scan-Elektronenmikroskop (SEM) -Anwendungen. Darüber hinaus bietet das System branchenführende Auflösungs- und Inspektionsgeschwindigkeiten für die Datenerfassung. Die KLA AIT 8010 ist die neueste Technologie für Wafertests und Messtechnik. Es wurde entwickelt, um hochauflösende, berührungslose Bildgebung für eine breite Palette fortschrittlicher Halbleiterstrukturen hoher Dichte mit optischen und elektronischen Bildgebungssystemen bereitzustellen. TENCOR AIT 8010 ist in der Lage, komplexe Strukturen bis zu 4um in Schritten von 0,01um zuverlässig zu analysieren und so maximale Genauigkeit und Leistung zu gewährleisten. AIT 8010 bietet darüber hinaus fortschrittliche 3D-Bildgebung, die in der Lage ist, große Funktionen sowie Funktionen mit hohen Seitenverhältnissen, schneller Bewegung und hoher Präzision zu überprüfen. Es verwendet ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), um diese Merkmale mit beispielloser Klarheit abzubilden, wodurch die Inspektionszeit reduziert und die Gesamtausbeute verbessert wird. Darüber hinaus können fortschrittliche Lithographie- und Ätztechniken verwendet werden, um einheitliche Merkmale über den Wafer zu erzeugen. KLA/TENCOR AIT 8010 bietet auch eine Qualitätsindex-Funktion, mit der Benutzer Pass/Fail-Trend verfolgen und Prozessprobleme identifizieren können, während die flexible Programmierumgebung Anwendern unzählige Optionen zur Anpassung von Inspektions- und Analyseprozessen bietet. Zahlreiche automatisierte Befehle und Datenanalysen bieten Anwendern mehr Kontrolle und ermöglichen eine tiefergehende und gründlichere Analyse. Die KLA AIT 8010 ist vollständig in bestehende Qualitätskontrollmodule der KLA integriert und ermöglicht eine noch weitere Qualitätskontrolle. Darüber hinaus ist das System CLII&CL IV-konform und erfüllt damit die Qualitäts- und Zuverlässigkeitsanforderungen für die heute immer komplexeren Fertigungsprozesse. Abschließend ist TENCOR AIT 8010 die ideale Wafertest- und messtechnische Lösung für eine Vielzahl fortschrittlicher Halbleiteranwendungen. Seine überlegene Auflösung, Geschwindigkeit, Qualitätsindexsysteme und Integration in bestehende Steuerungsmodule machen es zu einer idealen Wahl für branchenführende Prozesssteuerung und Gerätecharakterisierung.