Gebraucht KLA / TENCOR AIT Fusion XUV #9250962 zu verkaufen

KLA/TENCOR AIT Fusion XUV ist ein fortschrittliches Wafertest- und Messtechnik-System, das präzise und genaue Ergebnisse mit maximaler Effizienz liefert. Das System vereint zwei wesentliche Instrumente - ein Metrology SEM (Scanning Electron Microscope) und ein Wafer Inspection Tool. Das Metrology SEM bietet ultrahochauflösende bildgebende und zerstörungsfreie Suboberflächentests. Auf diese Weise können Anwender detaillierte Mikroanalysen und messtechnische Messungen der Waferoberfläche durchführen. Das Wafer Inspection Tool verwendet eine Röntgenstreuungstechnik, die schnelle und empfindliche Messungen der Oberfläche der Halbleiterscheibe ermöglicht. Darüber hinaus kann das Fusion XUV mit einer Vielzahl von benutzerdefinierten Vorrichtungen und Bühnenbewegungen ausgestattet werden. Das Fusion XUV verfügt über zahlreiche Funktionen, die es zu einer idealen Wafer-Testlösung machen. Es bietet fortschrittliche Algorithmen, die präzise Messungen und Analysen sowie hochauflösende Bildgebung ermöglichen, die schnelle und zuverlässige Ergebnisse liefert. Darüber hinaus liefert seine zuverlässige Kalibrierung genaue Ergebnisse, auch wenn eine Vielzahl von Wafertypen getestet wird. Insgesamt bietet KLA AIT Fusion XUV eine leistungsfähige und zuverlässige Lösung für Wafertests und Messtechnik. Seine Kombination aus fortschrittlichen bildgebenden und messtechnischen Werkzeugen bietet ihm außergewöhnliche Möglichkeiten für detaillierte Analysen und präzise Messungen. Darüber hinaus ist es benutzerfreundlich und bietet zuverlässige Ergebnisse, auch im Umgang mit hochkomplexen Waferoberflächen. Die Fusion XUV hat auch überlegene Wendezeiten im Vergleich zu anderen Testlösungen, so dass es eine gute Wahl für schnelllebige Branchen und Forschungslabors.