Gebraucht KLA / TENCOR AIT II #293585798 zu verkaufen

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KLA / TENCOR AIT II
Verkauft
ID: 293585798
Defect inspection system.
KLA/TENCOR AIT II ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik für Halbleiter-IC-Hersteller. Das System bietet hochpräzise Messungen zur Charakterisierung von schlüsselelektrischen, optischen und geometrischen Geräteparametern, die eine Optimierung des Entwicklungs- und Fertigungsprozesses ermöglichen. KLA AIT II bietet eine Vielzahl von Plattformen für Wafertests und Messtechnik. Seine integrierte Messtechnik-Plattform verwendet patentierte optische Technologien, um genaue und wiederholbare Messungen einer Reihe von Funktionsgrößen sowie Profil- und Bildmetriken zu erhalten. Diese Plattform sammelt wichtige Merkmalsinformationen wie Linienbreite, Raum- und Höhenmessung von Verbindungen und Kontakten sowie Die Maps, um eine schnelle Prozessoptimierung zu unterstützen. Darüber hinaus bietet das Gerät die Möglichkeit, Profil- und Bilddaten dreidimensional zu analysieren und ein umfassendes Verständnis komplexer Gerätestrukturen zu ermöglichen. Das einzigartige elektrische Testwerkzeug der Maschine bietet Messungen von hochfrequenten, digitalen und analogen integrierten Schaltungen sowie eine breite Palette von Disziplinen und bietet eine flexible, Hochgeschwindigkeitsprüffähigkeit. Dieses Asset bietet auch eine Schnittstelle für eine breite Palette von Charakterisierungsinstrumenten, von elektrischen Verzögerungsleitungstestern bis zu Vektornetzwerkanalysatoren. TENCOR AIT II bietet auch eine komplette integrierte Messtechnik für Inspektion und Montage, mit einer Vielzahl von Optiken für Substrat-, Verpackungs- und Plattenmessung, Inspektion und Charakterisierung. Es bietet hochpräzise dreidimensionale Messfähigkeiten zur Analyse von Foliendicke und Mikrodefekten sowie zur Inspektion von mikrogebundenen Strukturen. Das Modell bietet zudem eine umfassende Datenmanagementlösung für die effiziente Erfassung, Speicherung, Abruf und Berichterstattung von Messungen. Die Datenbank kann mehrere Teststrategien unterstützen und automatisch Berichte für verbesserte Business Intelligence erstellen. AIT II ist eine leistungsstarke Lösung für zerstörungsfreie nachfolgende Wafertests und bietet hochpräzise Messfähigkeiten, die mit fortschrittlichen Technologien und integrierten Datenbanklösungen ausgestattet sind.
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