Gebraucht KLA / TENCOR AIT II #293595222 zu verkaufen

KLA/TENCOR AIT II ist eine hochmoderne automatisierte Inline-Wafer-Prüf- und Messtechnik für die Halbleiterindustrie. Dieses System unterstützt verschiedene Wafertypen, darunter 205, 300 und 450mm. Es bietet zuverlässige und genaue Messungen an einer Vielzahl von Parametern, einschließlich kritischer Abmessungen (CD), Filmdicke, Ätztiefe, Oxiddicke und CMP-Prozessüberwachung. Die Einheit verwendet eine Kombination aus optischen Bildgebungs-, Streu- und Messtechnologien, um komplexe Halbleiterstrukturen genau zu messen. Die Maschine ist mit fortschrittlichen Signalverarbeitungsalgorithmen, datengetriebenen Mustererkennungslösungen und fortschrittlichem maschinellem Lernen integriert. Mit diesen Technologien liefert es schnell genauere und umfassendere Daten als manuelle Messungen. Das Tool ist auch in eine umfassende Palette von Software-Tools und Datenanalyse-Tools integriert, die Anwendern die Möglichkeit bieten, kritische Prozess- und Qualitätsmessgrößen schnell zu bewerten. KLA AIT II bietet zudem präzise und zuverlässige Hochdurchsatz-Testlösungen. Es verfügt über einstellbare Sichtlinie (LOS) und Einfallswinkel (AOI) Fähigkeiten, so dass Benutzer ihre CD-Messungen optimieren können. Die Anlage ist auch in der Lage, schwer erkennbare Merkmale und Defekte auf der Waferoberfläche zu identifizieren, einschließlich Partikel, Schmutz und Verfärbungen. Dadurch wird das Risiko von Fehlstellungen und Ungenauigkeiten reduziert, die zu Ertragsverlusten führen können. Mit seiner modularen und erweiterbaren Architektur bietet TENCOR AIT II eine effiziente und kostengünstige Testlösung von der Prozessentwicklung bis zur Produktion. Es bietet Remote-Support-Funktionen sowie anpassbare benutzerfreundliche Schnittstellen für einfache Bedienung und Wartung. Es ist auch mit einer umfangreichen Palette von Plattformen ausgestattet, einschließlich DfX, SPC, Advanced Process Control (APC) und mehr. AIT II ist ein innovatives und leistungsstarkes Wafer-Prüf- und Messtechnikmodell. Es wurde entwickelt, um zuverlässige, genaue und kostengünstige Lösungen für die Halbleiterindustrie anzubieten. Die fortschrittlichen Algorithmen der Signalverarbeitung, die datengesteuerten Mustererkennungslösungen und die ausgeklügelten Funktionen des maschinellen Lernens des Geräts tragen dazu bei, genaue Messungen und eine überlegene Qualitätskontrolle sicherzustellen. Darüber hinaus bieten die flexible Architektur, die Anpassungsoptionen und die Funktionen des Remote-Supports eine effiziente und kostengünstige Testlösung.