Gebraucht KLA / TENCOR AIT II #293767209 zu verkaufen

ID: 293767209
Defect inspection system.
KLA/TENCOR AIT II ist eine automatisierte Prüf- und Messtechnik für Wafer, die Halbleiterscheiben auf einem hochpräzisen Niveau testen und analysieren soll. Die KLA AIT II stellt sicher, dass die hergestellten Wafer den erwarteten Spezifikationen und detaillierten Konstruktionsanforderungen entsprechen. Es ermöglicht kurze Durchlaufzeiten zur Prozessoptimierung und steigert den Ertrag. TENCOR AIT II System ist für die Prüfung und Analyse von Halbleiterscheiben mit einer sehr hohen Genauigkeit optimiert. Es ist ideal für Anwendungen wie elektrische Prüfung und physikalische Dimensionsüberprüfung, wo genaue Messungen erforderlich sind. Es hat die Fähigkeit, eine Vielzahl von Materialien und Geometrien mit einer schnellen Geschwindigkeit zu testen, und kann bis zu 500 Wafer pro Stunde verarbeiten. AIT II-Einheit misst eine breite Palette von Wafer-Eigenschaften, wie Transistorleistung und Oxiddurchbruchspannungen. Es ist mit einer fortschrittlichen 3D-Bildverarbeitungsmaschine ausgestattet, die sowohl einfache als auch doppelte Mustertechnologien messen kann. Mit diesem Tool können kleinste Fehler, sogar Variationen im Nanometermaßstab, erkannt und Daten schnell und genau gesammelt werden. KLA/TENCOR AIT II Asset wurde für Windows 7, Windows 8 und Windows 10 entwickelt. Das Modell ist mit einer Vielzahl von Software- und Web-Schnittstellen integriert. Die Front-End-Wafer-Test- und Metrologie-Software bietet anspruchsvolle Software-Tools für die Waferanalyse, wie Micromap, CD-Maps und kritische Dimensionskarten. Die Geräte können auch in andere Softwareplattformen integriert werden, sodass Benutzer ihre Daten aus mehreren Quellen betrachten können. Das KLA AIT II System ist für die Prüfung und Analyse von Wafern in einer Produktionsumgebung konzipiert. Es ist für kostengünstige und Hochdurchsatzfunktionen konzipiert. Das Gerät hat die Fähigkeit, mehrere Wafer und Tests gleichzeitig einfach zu verwalten. Die Maschine ist auch mit verschiedenen Waferträgern und allen Wafergrößenstandards kompatibel. Es verfügt über Inline- und Offline-Testfunktionen, um maximale Genauigkeit und Zuverlässigkeit zu gewährleisten. Zusammenfassend ist TENCOR AIT II ein robustes automatisiertes Werkzeug, das eine genaue und zuverlässige Prüfung und Messtechnik von Halbleiterscheiben ermöglicht. Es bietet schnelle, genaue und detaillierte Messungen einer Vielzahl von Wafereigenschaften. Mit seinen erweiterten Imaging-Funktionen und Kosten- und Durchsatzfunktionen ist AIT II Asset ein unschätzbares Werkzeug für Wafertests und Messtechnik.
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