Gebraucht KLA / TENCOR AIT II #9377284 zu verkaufen

KLA / TENCOR AIT II
ID: 9377284
Wafergröße: 8"
Defect Measurement system, 8".
KLA/TENCOR AIT II (Advanced Inspection Tool) ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur schnellen Inspektion und Analyse von Defekten auf großen Wafern. Es bietet eine äußerst zuverlässige Lösung, um sicherzustellen, dass Wafer korrekt bearbeitet werden und keine Fehler enthalten. KLA AIT II besteht aus einem leistungsstarken automatisierten System mit einem Röntgendetektor, der es ermöglicht, einen gesamten 300mm Wafer in nur 15 Sekunden mit extrem hoher Genauigkeit zu inspizieren. Die Einheit kann sowohl Fremd- als auch native Teilchen mit einer Empfindlichkeit auf Augenhöhe mit den fortschrittlichsten Methoden der Halbleiterindustrie detektieren. Mit Hilfe der fotografischen Bildgebung ist die Maschine in der Lage, auch sehr kleine Defekte zu identifizieren, zu messen und zu analysieren. Die Software des Werkzeugs ist konfigurierbar, um bis zu 20 verschiedene Arten von Fehlern zu überprüfen, und kann auf Präzisionsniveaus bis zu 1 Nanometer kalibriert werden. Um eine hohe Genauigkeit zu gewährleisten, nutzt die Wafer-Messtechnik von TENCOR AIT II eine Kombination aus Standard-optischen Techniken und Laserbeugung. Dieses fortschrittliche Metrologiemodell ermöglicht schnelle, genaue Fehlermessungen und ist in der Lage, auch kleinste Fehler zu erkennen. Die Ausrüstung verfügt auch über eine breite Palette von Funktionen entwickelt, um die Genauigkeit und Effizienz zu verbessern. Dazu gehören ein automatisiertes Fehlererkennungssystem, ein Fehlerinspektionsarchiv, Partikelkonturdaten, ein Fehlerinspektionsablaufbauer, eine Bedienoberfläche und Bildnachbearbeitungswerkzeuge. Die KLA hat auch eine Reihe von Hardware- und Softwareoptionen entwickelt, mit denen Benutzer das Gerät an ihre spezifischen Anforderungen anpassen können. Beispiele hierfür sind der Zusatz eines hochauflösenden Mikroskops, eines kollimierten Detektors der dritten Generation und einer automatischen Kalibriermaschine. Neben seinen beeindruckenden Eigenschaften ist AIT II eines der benutzerfreundlichsten verfügbaren Wafer-Prüf- und Messtechnik-Systeme. Es verfügt über eine benutzerfreundliche Oberfläche und verfügt über eine umfassende Dokumentation, mit der Benutzer ihre Systeme schnell und präzise einrichten und bedienen können. Zusammenfassend ist KLA/TENCOR AIT II ein leistungsfähiges und zuverlässiges Wafer-Prüf- und Messtechnikwerkzeug, das eine schnelle, genaue und kostengünstige Lösung für eine breite Palette von Anforderungen an die Waferinspektion und -analyse bietet.
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