Gebraucht KLA / TENCOR AIT II #9387208 zu verkaufen

KLA/TENCOR AIT II ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik. Das System bietet berührungslose optische Messtechnik, die eine hohe Produktivität und Genauigkeit bei der Waferinspektion ermöglicht. Darüber hinaus verfügt es über innovative Strahllinien-Technologien, um die Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu erhöhen. Das Gerät ist in der Lage, Oberflächenfehler, Verunreinigungen und Defekte in Mustern oder anderen feinen Merkmalen mit extrem hoher Präzision zu erkennen, ideal für die Sicherstellung der Qualität in der Waferproduktion. KLA AIT II besteht aus einem kompakten optischen Messtechnikwerkzeug und einer umfassenden Steuerungsmaschine zur Parametereinstellung, optischen Ausrichtung und Datenerfassung. Das Werkzeug verwendet lineare X-Y-Z-Translationen, die eine dreidimensionale Abbildung ermöglichen. Die Technologie ist auch in der Lage, eine breite Palette von Mustergrößen mit Bildauflösungen bis zu 0,5 Mikron zu scannen. Dies ermöglicht die Erkennung von Unvollkommenheiten, die mit bloßem Auge schwer zu erkennen sein können. Das Asset umfasst mehrere innovative Technologien zur Verbesserung der Bildtreue und der Bildverarbeitungsgeschwindigkeit. Dazu gehören ein fortschrittlicher automatischer Fokussierungsmechanismus, eine redundante Lichtquelle, ein Satz von Strahllinienoptiken sowie eine Strahlwegsteuerung und ein Autointensitätsausgleich. Ein Laserautofokus bietet hohe Genauigkeit und hat dynamische Reihe des Fokus für statische und schnelllaufende Bildaufbereitungsanwendungen erweitert. Redundante Lichtquellen bieten Beleuchtungsredundanz und konsistente Bildhelligkeit. Strahllinienoptik bietet Weitfeldbildgebung und hochauflösende Bildgebung mit präziser Kurzwellenlängenbeleuchtung. Die Strahlengangsteuerung ermöglicht großflächige Weitfeldmessungen mit schnellen Iterations- und Bildaufnahmegeschwindigkeiten. Der Autointensitätsausgleich ermöglicht eine konsistente und genaue Beleuchtung im bildgebenden Bereich. Kombiniert bieten diese Technologien eine überlegene Bildtreue und einen erhöhten Durchsatz für die Probenqualifizierung. TENCOR AIT II Wafer Test und Metrologie Modell bietet eine robuste und zuverlässige Plattform für Wafer Inspektion und Produktion. Die fortschrittlichen Technologien des Geräts bieten eine beispiellose Bildtreue und ermöglichen exakte und präzise Messungen bei minimaler Bedienerbeteiligung. Fortschrittliche optische Messtechnik macht es zur perfekten Wahl für Produktionsanwendungen.