Gebraucht KLA / TENCOR AIT UV #9285845 zu verkaufen

KLA/TENCOR AIT UV ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die erweiterte Dimensions- und Fehlerinspektionen von Halbleiterscheiben ermöglicht. Es misst genau und genau die Breite, Länge, Form und andere Eigenschaften von Strukturen auf einem Halbleiterwafer, um sehr kleine Fehler oder Unregelmäßigkeiten zu erkennen. Es ist mit einer einzigartigen UV-Lichtquelle ausgestattet, die eine kontrastreiche Bildgebung ermöglicht. Dieses System erkennt sehr kleine Defekte bis zu 0,5 Mikrometer und kann Merkmale bis zu 10 Nanometer messen. Die UV-Einheit KLA AIT ist vollautomatisch und in der Lage, sowohl planare als auch 3D-Strukturen auf dem Wafer zu messen. Es bietet überlegene Auflösung, Empfindlichkeit und Geschwindigkeit sowie Funktionen wie Autofokus auf die Waferoberfläche, Speicherfunktionen für schnellere Messungen und simultane Probenabtastung und Messtechnik. Die fortschrittliche Mikroskopie-Plattform basiert auf einer plattformunabhängigen Optik der KLA und ermöglicht gleichzeitig die Messung verschiedener Merkmale auf der Oberfläche des Wafers. TENCOR AIT-UV ist auch für eine breite Palette von Wafertypen und -größen konzipiert. Es kann mit mehreren Lasern, Detektoren, Kameras und Lichtquellen konfiguriert werden, um die spezifischen Anforderungen jeder Anwendung zu erfüllen. Es kommt auch mit einem erweiterten UV-Fenster für schnelle und genaue Wafermessungen und einer intuitiven Benutzeroberfläche, die ein schnelles Wechseln zwischen Anwendungen ermöglicht. Die Maschine ist auch in der Lage, Bildanalyse, Datenüberprüfung und Fehlererkennung. AIT-UV ist auch mit fortschrittlichen Messtechnik-Tools ausgestattet, die eine breite Palette von Daten erfassen können, einschließlich 3D-Topographie für genaue Fehlertests und 3D-Bildgebung. Es hat die Fähigkeit, mehrere Merkmale eines Wafers gleichzeitig zu untersuchen und gleichzeitig hohe Geschwindigkeit, hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu bieten. Das Werkzeug ist auch in der Lage, eine Vielzahl von Defekten zu erkennen, von kleinen Anomalien bis hin zu Makrofehlern, die eine effektive Fehlerisolierung und Waferreparatur ermöglichen. Insgesamt ist KLA/TENCOR AIT-UV ein fortschrittliches Wafer-Test- und Messtechnik-Asset. Es bietet hochmoderne Genauigkeit und Empfindlichkeit für die Fehlerinspektion und Merkmalsmessung und unterstützt eine Vielzahl von Wafertypen und -größen. Zu den Funktionen gehören eine einzigartige UV-Lichtquelle, eine fortschrittliche Mikroskopie-Plattform, Bildanalyse, Datenüberprüfung und Fehlererkennung. AIT UV ist ein zuverlässiges, effizientes und vielseitiges Modell, das im Vergleich zu anderen ähnlichen Werkzeugen einen überlegenen Kostenvorteil bietet.