Gebraucht KLA / TENCOR AIT XP #9204139 zu verkaufen

KLA/TENCOR AIT XP ist eine hochentwickelte und branchenführende Wafer-Prüf- und Messtechnik. Dabei handelt es sich um ein vollwertiges Beobachtungssystem zur Prozess- und Ertragsanalyse von Halbleiterscheiben. Es ist mit fortschrittlicher Optik, Bildanalyse und Vibrations-Canceling-Werkzeug ausgestattet. Dies macht es die Wahl für hochpräzise optische Messungen und genaue Analyse von Wafern. KLA AIT XP ist mit fortschrittlichen Beleuchtungsmerkmalen ausgestattet, wie einer zonengekoppelten LED-Beleuchtungseinheit und einem mehrbandigen LED-beleuchteten Beleuchter, um eine helle und gleichmäßige Ausleuchtung der Probe zu ermöglichen. Dies ermöglicht eine bessere Kantendefinition und einen verbesserten Kontrast, was die Bildqualität bei unterschiedlichen Temperatur- und Umgebungsbedingungen verringert. TENCOR AIT-XP verwendet auch leistungsstarke Zoomoptiken für die Rekonstruktion von Optik und Bildauflösung und bietet so eine verbesserte Messgenauigkeit. TENCOR AIT XP verfügt über eine breite Palette von spezialisierten Fähigkeiten für die Prozess- und Ertragsanalyse. Es bietet erweiterte CD-Metrologie (CDM) und Point-of-Failure (POF) -Algorithmen zur Erkennung von anomalem Verhalten im Prozess und zeigt Bereiche mit Ertragsverlust. Es verfügt außerdem über Scan Map und Focus Map-Funktionen zur Quantifizierung fokusspezifischer semi-3D Benchmarks wie Tiefengenauigkeit und berührungslose Profilometrie. Darüber hinaus ist AIT-XP vollständig in KLA- und TENCOR-Inspektionskopfmodule (IHM) integriert und ermöglicht Schnittstellenneutralität mit einer Vielzahl von IHM-Modulen, um Anwendern flexible und einfache Integrationsoptionen zu bieten. KLA AIT-XP ist mit leistungsstarken Vibrations-Canceling-Werkzeugen ausgestattet, die eine überlegene Wiederholbarkeit während der Messtechnik bieten und den Einfluss von Vibrationen auf messtechnische Werkzeuge minimieren. Diese Maschine bietet auch eine Temperaturregelung, die eine optimale Umgebung für die Messung von Proben und die Optimierung der Wiederholbarkeit ermöglicht. Darüber hinaus ist KLA/TENCOR AIT-XP mit der eigenständigen Automatisierungsumgebung der KLA/TENCOR PathFinder-Bibliothek verfügbar. Dies bietet eine umfassende Palette von Automatisierungstools, einschließlich umfassender grafischer Benutzeroberflächentools (GUI) und einer robusten Anwendungsprogrammierschnittstelle (API). AIT XP Wafer Testing and Metrology Tool ist ein leistungsfähiges, funktionsreiches Asset für die Prozess- und Ertragsanalyse von Halbleiterwafern. Von fortschrittlicher Beleuchtung und Optik bis hin zu leistungsstarken grafischen Benutzeroberflächen und Automatisierungsumgebungen bietet dieses Modell eine vollständige Palette hochentwickelter Funktionen für zuverlässige und wiederholbare Tests und Analysen.