Gebraucht KLA / TENCOR AIT XP+ #9255307 zu verkaufen

KLA/TENCOR AIT XP + ist eine hochentwickelte Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für aktuelle und zukünftige Halbleiter-Wafer-Technologien wie FinFET und andere erweiterte Knoten entwickelt wurde. Es ist die neueste Generation dieser Serie von ultrapräzisen Messwerkzeugen von UCK und bietet eine Vielzahl von Funktionen und Fähigkeiten, um Kunden zu helfen, die Wafer-Charakterisierung und Prozesssteuerung auf die nächste Ebene zu heben. KLA AIT XP + ist ein automatisiertes Wafer-Test- und Messsystem, das hochgenaue Messungen mit beispielloser Geschwindigkeit und Genauigkeit liefert. Das Gerät verwendet eine ausgeklügelte Laser-Interferometer-basierte Technologie, um individuelle nanoskalige Merkmale mit wenigen Angströmen der Auflösung zu messen und die in vielen Laboren verwendeten herkömmlichen optischen Profiler weit zu übertreffen. Darüber hinaus kann die Maschine eine Reihe weiterer Prüf- und Messtechnikaufgaben durchführen, wie Dickenmesstechnik, Linienbreitenmessungen, Folienspannungsmessungen und topographische Bildgebung. TENCOR AIT-XP + bietet auch mehrere erweiterte Funktionen, so dass Kunden einen tieferen Einblick in ihre Wafer-Charakterisierung, Prozesssteuerung und Zuverlässigkeitsprozesse erhalten. Das Werkzeug enthält beispielsweise ein SIL-Modul (Solid Immersion Lens), um Präzisionsmessungen von Strukturen mit hohem Seitenverhältnis wie finFETs zu ermöglichen. Darüber hinaus bietet das Asset eine breite Palette fortschrittlicher Datenanalysetechniken, um Kunden bei der Optimierung ihrer Prozessleistung zu unterstützen. AIT-XP + bietet auch hervorragende Genauigkeit, Präzision und Wiederholbarkeit auf einer Vielzahl von Substraten und für eine Vielzahl von Anwendungen und ist damit eines der vielseitigsten verfügbaren Wafer-Prüf- und Messtechniksysteme. Dank seines innovativen Designs und seiner Spitzentechnologie eignet es sich auch ideal für eine extrem genaue Verarbeitung in Umgebungen, in denen Time-to-Market und Zuverlässigkeit entscheidend sind. Abschließend ist AIT XP + ein außergewöhnliches Wafertest- und Metrologiemodell, das für Halbleiterwafertechnologien der nächsten Generation entwickelt wurde. Es bietet branchenführende Genauigkeit, Präzision und Wiederholbarkeit sowie eine Vielzahl fortschrittlicher Funktionen und Funktionen. Darüber hinaus sind sein innovatives Design und seine Spitzentechnologie ideal für eine äußerst präzise und schnelle Verarbeitung und damit eines der wertvollsten Werkzeuge für die fortschrittliche Halbleiterforschung und -entwicklung.