Gebraucht KLA / TENCOR AIT XT+ #9261842 zu verkaufen

KLA/TENCOR AIT XT + ist eine Wafer-Test- und Messtechnik der nächsten Generation, die hochempfindliche, mehrkanalige Fehlererkennungsfunktionen zur Erkennung und Behebung von Defekten auf fortgeschrittenen Knoten-Halbleitersubstraten bietet. Das System verfügt über elektrooptische Bildgebung, einen branchenführenden Review-Cluster und QA Vision-Technologie. Die elektrooptische Abbildungseinheit scannt eine Vielzahl von Substraten, die eine schnelle und genaue Inspektion von Wafern ermöglichen. Dies ermöglicht den Nachweis von Partikeln, Kratzern, Folien, Maskierungen und anderen Fremdstoffen auf dem Wafer, die möglicherweise messtechnische Fehler verursacht haben. Ein branchenführender Überprüfungs-Cluster überprüft die Bilddaten, die von jedem Wafer ausgegeben werden, und verwendet fortschrittliche Algorithmen, die zur Beseitigung falscher Fehlersignale auf bessere Empfindlichkeit und weniger Fehlalarme ausgelegt sind. KLA AIT XT + ist mit einer einzigartigen QA Vision Technologie durch eine Suite von benutzerdefinierter Hardware und Software namens Visual AI ausgestattet. Diese Technologie kombiniert fortschrittliche Algorithmen des maschinellen Lernens mit herkömmlichen unterschiedlichen Inspektionsmethoden, um mögliche Fehler mit hoher Genauigkeit zu identifizieren. Diese Maschine bringt Intelligenz in die Inspektionspraktiken, automatisiert den mühsamen Prozess der visuellen Inspektion und erhöht die Genauigkeit des Befundes. Das Tool enthält auch eine Fülle weiterer Funktionen, um die Prüf- und Messtechnik-Anforderungen der Halbleiterhersteller zu erfüllen. Es beinhaltet eine erweiterte Fehlerklassifizierung, Mehrfachdetektorinspektion und eine Auflösung auf der Matrize für maximale Waferausbeute. Darüber hinaus bietet es automatisierte Prozessintegration, erweiterte Fehlerüberwachung und Reporting zur schnellen Charakterisierung und Analyse. TENCOR AIT XT + bietet eine elegante Lösung für modernste Wafertests und Messtechnik. Seine Kombination aus hoher Empfindlichkeit, QS-Technologie, fortschrittlicher Klassifizierung und automatisierter Prozessintegration machen es ideal für Halbleiterhersteller, die den Ertrag durch eine bessere Waferproduktion steigern möchten. Die Anlage ist robust und adaptiv und bietet eine genaue Fehlererkennung und Messtechnik unter verschiedenen Bedingungen.