Gebraucht KLA / TENCOR AIT #149930 zu verkaufen

KLA/TENCOR AIT (Automated Inspection Technology) ist eine von der KLA, einem führenden Anbieter von Waferinspektionslösungen, gefertigte Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es wird verwendet, um die Qualität von mikroelektronischen Bauelementen wie Halbleitern während ihrer Herstellung zu überprüfen, typischerweise an der IC-Fertigungsstufe. Das System arbeitet, indem elektronische Werkzeuge (Schaltungselementschichten) gescannt und die Ergebnisse mit einem hochauflösenden Mikroskop gemessen werden. Es vergleicht diese Bilder dann automatisch mit einem definierten Satz von vom Kunden bereitgestellten Spezifikationen und verwendet Software-Algorithmen, um etwaige Fehler zu ermitteln. KLA AIT nutzt eine Reihe integrierter modernster Technologien, um Wafer genau zu messen und die Fertigungsergebnisse eingehend zu analysieren und Prozess- und Designprobleme zu identifizieren, bevor sie zum Produktausfall führen. Das Gerät verfügt über ein leistungsstarkes, mehrfarbiges Mikroskop, mit dem Bediener Funktionen bis zu 1 Mikron untersuchen können. Es verfügt auch über eine Vielzahl von erweiterten Optiken, darunter ein Spektrometer, eine CCD-Kamera und verschiedene optische Filter. Diese ermöglichen es dem Mikroskop, weitere Informationen über die zu testenden Geräte aufzunehmen und den Anwendern hochsensible messtechnische Daten zu liefern. Die Maschine kann auch mit automatisierten optischen Inspektionsplattformen (AOI) verwendet werden, die entwickelt wurden, um Fehler mit beispielloser Effizienz durch schnelle optische Scans von Wafern zu erkennen. AOI kann helfen, Testzeiten zu reduzieren, da es Probleme mit einem einzigen Scan schnell erkennen kann, im Gegensatz zu Menschen, die manuell jeden Stempel überprüfen müssen. TENCOR AIT nutzt eine Kombination dieser AOI und Messtechnologien, um Gerätefehler effizient zu inspizieren, zu messen und zu klassifizieren, wodurch Anwender umfassende Analysen des Gerätezustands erhalten. AIT integriert nahtlos Datenerfassung und -analyse, physikalische Inspektion und Stempelanalyse. Es bietet Anwendern detaillierte Berichte und Analysen, die es ihnen ermöglichen, fundierte Entscheidungen zu treffen und gleichzeitig die Leistung ihrer Fertigungsprozesse zu optimieren. Dank seiner intuitiven Benutzeroberfläche und flexiblen Konfigurationsoptionen können IC-Fertigungspersonal ein konsistentes Maß an Prozessoptimierung und Gerätequalitätssicherung erreichen. Mit seinen erweiterten Funktionen und Funktionen ist KLA/TENCOR AIT ein wesentlicher Bestandteil jeder Wafer-Test- und Messtechnik-Umgebung. Die Kombination aus robuster Optik, flexibler Steuerungssoftware und benutzerfreundlicher Oberfläche machen es zu einem idealen Werkzeug, um kleine Mängel schnell zu erkennen und die Produktionskosten zu senken. Durch zuverlässige Analysen und Rückmeldungen trägt die KLA AIT dazu bei, das Risiko eines Geräteausfalls zu reduzieren und sicherzustellen, dass Produkte mit gleichbleibend hoher Qualität hergestellt werden.