Gebraucht KLA / TENCOR AIT #293642831 zu verkaufen

KLA / TENCOR AIT
ID: 293642831
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1999
Defect inspection system, 8" 1999 vintage.
KLA/TENCOR AIT ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur präzisen Messung und Inspektion von Halbleiterscheiben. Das System kombiniert optische und Rechentechnologien, um strukturelle Defekte zu erkennen und die Qualität der Wafer genau zu beurteilen. Es erfasst Bilder der Oberfläche des Wafers mit hochauflösenden digitalen Bildgebungssensoren und verarbeitet die Daten mit fortschrittlichen Algorithmen. Die Einheit verwendet dann eine Kombination aus Mustererkennung, automatisierter Analyse und menschlicher Einsicht, um Fehler zu erkennen, zu kategorisieren und zu quantifizieren. KLA AIT-Maschine deckt eine breite Palette von Wafer-Produktion und Prozessanforderungen, einschließlich der Charakterisierung von kritischen Abmessungen, Overlay-Messungen und Fehlerinspektion. Seine optischen Hochgeschwindigkeitssensoren bieten detaillierte Bildanalysen, um Auffälligkeiten bis zur Nanometerskala zu erkennen. Es ist auch in der Lage, Daten über die Zusammensetzung und Oberfläche des Wafers genau und konsistent zu liefern TENCOR AIT-Tool ist entworfen, um einen effizienten Durchsatz zu erleichtern und die Datenanalyse zu vereinfachen. Es verfügt über anpassbare Software und offene Architektur, so dass Benutzer Hardware nach Bedarf hinzufügen und die Software leicht ändern können. Dies macht es ideal für Anwendungen, die schnelle Anpassung und schnelle Analyse erfordern, wie sie in der fortschrittlichen Nanotechnologie zu finden sind. Die Anlage verfügt außerdem über einen automatisierten Waferlader für erhöhte Produktivität und eine geräuscharme Umgebung für genaue und wiederholbare Messungen. Es umfasst auch ein Umweltüberwachungsmodell, das eine zuverlässige Leistung in jeder Umgebung gewährleistet. Die Kombination aus integrierter Hardware und fortschrittlichen Algorithmen kann auch verwendet werden, um Unterschiede zwischen einzelnen Wafern zu identifizieren, die Ausbeute zu erhöhen und Produktionsfehler zu reduzieren. Der Waferdefekt und die Plasmaätzrate können auch mit AIT-Geräten genau bestimmt werden. KLA/TENCOR AIT ist eine ideale Lösung für Hersteller, die zuverlässige und genaue Messungen suchen, die schnell in ihre Produktionsprozesse integriert werden können. Es wurde entwickelt, um die höchste Bildqualität, Fehlererkennung und Leistung zu bieten. Darüber hinaus ist das System sehr konfigurierbar und kann verschiedene Arten der Waferfertigung aufnehmen. Die offene Architektur macht es einfach, neue Hardware und Software zu integrieren, sodass Benutzer das Gerät im Laufe der Zeit ändern können.
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