Gebraucht KLA / TENCOR AIT #9239215 zu verkaufen

KLA/TENCOR AIT (Adaptive Inspection Technology) ist ein von der UCK entwickeltes Wafer-Prüf- und Messtechnik-System. KLA AIT wurde entwickelt, um Halbleiterscheiben mit erhöhter Geschwindigkeit und Genauigkeit zu überprüfen und qualitativ zu charakterisieren. Das System kombiniert Hochgeschwindigkeits-proprietäre Bildverarbeitungstechnologie mit automatisierten elektrischen Tests, um nicht sichtbare Produktions-Ertragskomponenten zu erkennen. Das primäre Ziel von TENCOR AIT ist es, nicht sichtbare Fehler zu reduzieren, die die Wafererträge verringern. AIT wird oft als „drittes Auge“ für seine Verwendung bei der detaillierten Inspektion der Mikrostrukturen von Wafern bezeichnet. Es verwendet fortschrittliche Software-Algorithmen, um die kleinsten, unsichtbaren bis zum Auge Fehlstellen zu finden, die die Erträge reduzieren. Die eingebaute Machine Vision der Maschine besteht aus einer Reihe fortschrittlicher Sensoren, die Bilder des Wafers aufnehmen, um die Oberflächentopologie und Gleichmäßigkeit zu überprüfen. Diese Bilder werden dann analysiert, um Variationen in Bezug auf Maßparameter - wie Merkmale, Partikelverteilungen und dynamische Defekte - mit sehr hoher Geschwindigkeit zu erkennen. Das System ist einzigartig in seiner Fähigkeit, kombinierte elektrische Tests mit Bildern der Waferoberfläche während der Makroinspektion zu kombinieren. Generell bietet KLA/TENCOR AIT eine hochmoderne Kombination aus Messtechnik und Bildgebung mit fehlerhaften bildgebenden Funktionen. Dadurch können auch kleinste Defekte gefunden werden, die die Waferausbeuten reduzieren können. Mit seinen innovativen Scan-, Sondierungs- und Testfunktionen kann KLA AIT Produktionsausbeute-Defekte schnell bei einer Auflösung von bis zu 10 Mikrometern erkennen und ermitteln. Es kann auch kritische Abmessungen wie Linienbreiten, KE-Höhen und Torbereiche identifizieren und messen, um ein ertragreiches Produkt zu gewährleisten. Insgesamt bietet TENCOR AIT Unternehmen im Halbleiterherstellungsraum eine verbesserte Qualitätskontrolle und verbesserte Erträge. Es kann selbst kleinste sichtbare und nicht sichtbare Mängel erkennen, isolieren und identifizieren, wodurch Unternehmen in der Halbleiterindustrie wettbewerbsfähig bleiben können. Mit seinen fortschrittlichen Bildgebungs- und Sondierungsfunktionen ist AIT ein zuverlässiges und unverzichtbares Werkzeug für Unternehmen der Halbleiterindustrie.