Gebraucht KLA / TENCOR AIT #9296265 zu verkaufen
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ID: 9296265
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1998
Defect inspection system, 8"
1998 vintage.
KLA/TENCOR AIT, eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, ist ein fortschrittliches Bildgebungs- und Analysetool, das zur Identifizierung und Behebung von Defekten in Wafern der nächsten Generation entwickelt wurde. Das System bietet eine detaillierte 2D- und 3D-Bildgebung, Analyse und Berichterstattung über die gesamte Oberfläche eines Wafers. Es ist für Aufgaben wie Fehlerklassifizierung, Druckmängel, ordnungsgemäße Platzierungsüberprüfung, Chipping-Inspektion und Überbrückungsfehleranalyse konzipiert. KLA AIT-Einheit bietet verschiedene Arten von fortschrittlichen Bildgebung wie Hellfeldbildgebung, autofokussierte Bildaufnahme und eine Vielzahl von automatisierten Inspektionstechniken. Seine fortschrittliche Bildverarbeitungs- und Analysemaschine bietet eine ausgeklügelte und schnelle Erkennung von Defekten und bietet eine hohe Empfindlichkeit, auch kleine Defekte zu erkennen. Es ermöglicht Anwendern, Fehler schnell zu kategorisieren und zu priorisieren, Trends in ihren Produktionsprozessen zu identifizieren und letztlich die Geräteausbeute zu verbessern. TENCOR AIT-Tool bietet Charakterisierung von Wafern einschließlich Statistiken, Fehlerdichtemapping, Linienbreitenanalyse und Mustererkennung. Es bietet auch integrierte Fehlerüberprüfungsfunktionen, bietet schnelles Feedback zur Fehleranalyse und hilft Benutzern, Problembereiche zu isolieren. Darüber hinaus bietet das Asset eine automatisierte Oberflächenfehlerinspektion und Prozessintegration, die einen Hochgeschwindigkeits- oder Wafer-zu-Wafer-Vergleich ermöglicht. Darüber hinaus kann AIT verwendet werden, um Trends in der Messtechnik von mehreren Tools zu identifizieren und bietet verschiedene Berichtsoptionen wie Wafer-Bericht und Fehlerzusammenfassung mit einer knappen grafischen Ausgabe. Die benutzerfreundliche Oberfläche und der automatisierte Betrieb sind auch so konzipiert, dass Benutzer schnell verschiedene Arten von Inspektionen schnell und genau einrichten und durchführen können. Insgesamt ist KLA/TENCOR AIT ein leistungsfähiges Werkzeug für Wafertests und Messtechnik, das es Anwendern ermöglicht, Fehler in Wafern der nächsten Generation effizient zu identifizieren, zu isolieren und zu beheben. Es ist eine unschätzbare Ressource für die Ertragsverbesserung und Prozessoptimierung des Geräts und sichert die Produktion hochwertiger Geräte mit gesunkenen Kosten.
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