Gebraucht KLA / TENCOR AIT #9400274 zu verkaufen

KLA/TENCOR AIT (Advanced Interactive Technology) ist eine führende Wafer-Prüf- und Messtechnik, die schnelle, zuverlässige und aussagekräftige Informationen über die Qualität von Nano- und Mikroprozessoren liefert. Das System bietet High-End-Messtechnik, Fehlererkennung und Analysefunktionen, um Halbleiterherstellern zu helfen, integrierte Schaltungen zu produzieren und zu überwachen. KLA AIT-Systeme verwenden fortschrittliche, automatisierte optische Inspektionsalgorithmen, um Fehler in Wafern zu erkennen. Das Gerät ist mit Submikron-Auflösungsfunktionen ausgelegt und bietet die höchste Genauigkeit und detaillierte Fehleranalyse. Die innovative Wafer-Test- und Messtechnologie von TENCOR AIT ermöglicht es Anwendern, einen Wafer schnell und genau zu analysieren, Fehler zu ermitteln und Merkmale und Muster zu messen. Darüber hinaus ermöglichen AIT-Systeme es Anwendern, individuelle Inspektionen einzurichten und Prozesse über mehrere Standorte hinweg zu überwachen, um die Qualitätskontrolle sicherzustellen. Bei der Analyse von Wafern verwenden KLA/TENCOR AIT-Systeme mehrere bildgebende Technologien, einschließlich Hellfeld, Infrarot und UV. Diese Technologien bieten einen umfassenden Einblick in den Wafer und können die schwierigsten Mängel und Variationen identifizieren. Die Fehlererkennungsalgorithmen der Maschine werden von einer patentierten Declassified AtPixel (DAP) Library unterstützt, die es Benutzern ermöglicht, empfindliche Muster und Fehler zu visualisieren, zu untersuchen und zu messen, die sonst schwer zu erkennen wären. Die Software von KLA AIT ist ebenfalls leistungsstark und bietet Anwendern eine automatisierte, optimierte Art und Weise, das Tool zu bedienen. Von Wafer-Mapping und Mustererkennung bis hin zur Fehleranalyse und Prozesssteuerung ermöglicht die Software den Anwendern, wichtige Datenpunkte zu extrahieren und präzise Entscheidungen schneller und effizienter zu treffen. Darüber hinaus verfügt die Software über erweiterte Analysefunktionen, mit denen Benutzer detaillierte Berichte überprüfen, optische Modelle erstellen und datengesteuerte Erkenntnisse generieren können. TENCOR AIT ist eine zuverlässige und umfassende Metrologie, die umfassende Fehlererkennung und robuste Analysefunktionen bietet. Es ist intuitive Software und fortschrittliche Bildgebungstechnologien bieten einen umfassenden Blick auf den Wafer und machen die Identifizierung und Behebung von Fehlern einfacher denn je. Für Halbleiterhersteller ist AIT ein unschätzbares Werkzeug, das dazu beiträgt, ein Höchstmaß an Qualität für ihre Produkte zu gewährleisten.