Gebraucht KLA / TENCOR Aleris CX #9205119 zu verkaufen

ID: 9205119
Film thickness measurement system, 12" 2007 vintage.
KLA/TENCOR Aleris CX ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die Hersteller bei der Qualitätsprüfung, Charakterisierung und Analyse von High-End-Wafer-Produktionsprozessen unterstützen soll. KLA Aleris CX wird hauptsächlich zur Überwachung und Charakterisierung der Produktleistung, der Materialeigenschaften und der Prozesserträge verwendet. Dieses System kann effektiv die physikalischen Eigenschaften, das elektrische Verhalten und andere Merkmale eines Wafers oder eines anderen Halbleiterchips messen und zuverlässige Leistungsinformationen und genaue Gerätedaten erhalten. TENCOR Aleris CX kann Parameter wie Abmessungen, elektrische Eigenschaften und Aussehen messen. Aleris CX nutzt eine breite Palette fortschrittlicher Messtechnik-Tools und Prozessüberwachungssysteme, um Daten aus den Wafern zu sammeln und zu analysieren. Dazu gehören automatische Sondierung, Querschnittsprüfung, Linienrauhigkeitsanalyse, Partikelabtastung und Elektronenrückstreuung (EBSD). Automatisierte Bildverarbeitungssysteme, Bildanalysealgorithmen und räumliche Filtertechniken ermöglichen eine genaue Messung und Charakterisierung von Wafermerkmalen. Darüber hinaus werden fortgeschrittene optische Techniken wie konfokale Mikroskopie, digitale Bildgebung und Stress-Fleck-Kartierung verwendet, um die Materialzusammensetzung und andere Wafereigenschaften zu bestimmen. Die von KLA/TENCOR Aleris CX erhobenen Daten werden analysiert und in umfassenden Grafiken und Berichten dargestellt. Die Einheit bietet Managern detaillierte Einblicke in die Produktleistung und die Prozesserträge, indem sie Ertragstrends, Problembereiche, Fehlerwerte und andere Messgrößen anzeigen. KLA Aleris CX kann mit bestehenden Geräten und Softwaresystemen verbunden werden, um eine nahtlose Integration in Produktionslinien zu gewährleisten. Darüber hinaus ist TENCOR Aleris CX auch in der Lage, eine Selbstkalibrierung durchzuführen, was die manuelle Anpassung für die Änderung von Parametern überflüssig macht. Als vielseitige und äußerst zuverlässige Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine ist Aleris CX eine ideale Lösung für Unternehmen, die eine fortschrittliche Waferanalyse und -charakterisierung suchen. Dieses Tool ist in der Lage, komplexe Daten in einem komprimierten Zeitrahmen zu sammeln und zu analysieren, sodass Unternehmen Produktfehler schnell und genau identifizieren können. Darüber hinaus kann KLA/TENCOR Aleris CX individuell auf unterschiedliche Produktionsanforderungen zugeschnitten werden, was Unternehmen dabei unterstützt, effiziente Testverfahren zu entwickeln und höhere Erträge zu erzielen.
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