Gebraucht KLA / TENCOR Aleris Hx8500 #9281738 zu verkaufen

KLA/TENCOR Aleris Hx8500 Wafer Testing & Metrology Equipment ist eine fortschrittliche automatisierte optische Inspektion (AOI), Fehlerüberprüfung und zerstörungsfreie Testlösung, die eine umfassende Reihe fortschrittlicher Testfunktionen bietet. Das System wurde entwickelt, um den höchsten Durchsatz auf kompakter Fläche zu erzielen. Das Gerät arbeitet auf Wafern bis 8 Zoll Durchmesser, mit einer Testfläche von bis zu drei Fuß. KLA Aleris verwendet Hx8500 eine zweidimensionale Bildgebungsmaschine, um Muster in Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 8 "zu überprüfen. Hochauflösende Bilder werden aufgenommen und digitale Linsen werden verwendet, um die Messung von winzigen Merkmalen und gesamten Substraten zu unterstützen. Das fortschrittliche Beleuchtungswerkzeug bietet eine Reihe von optischen Konfigurationen, um eine Vielzahl verschiedener Waferdefekte zu erkennen, einschließlich Kratzer, Löcher und Defekte in Linienbreiten, Formen, Tiefen und Ausrichtung. TENCOR Aleris Hx8500 verfügt auch über eine leistungsstarke Inspektionsmaschine, die Waferdaten zur Überprüfung erfasst und aufzeichnet. Das Asset bietet auch statistische Bildanalyse-Software, die verwendet werden kann, um zuverlässige Qualitätskontrolle Entscheidungen zu unterstützen. Die benutzerfreundliche Oberfläche ermöglicht es Benutzern, Inspektionen schnell einzurichten und anzupassen, und die automatisierte Workflow-Optimierung trägt zur Maximierung der Inspektionseffizienz bei. Das Modell bietet auch einen umfassenden Satz von Wafer-Testfunktionen, einschließlich patentierter automatischer Testprogrammvalidierung, Guard-Band-Optimierung, parametrische Testprogrammgenerierung, parametrischer Scan und Fail Retention sowie Musterfehlererkennung und -analyse. Diese Funktionen wurden entwickelt, um die fortschrittlichsten und genauesten Wafer-Testfunktionen in einem kompakten Paket bereitzustellen. Um zuverlässige Wafer-Testergebnisse sicherzustellen, wird das Gerät auch mit Funktionen wie automatischer Fehlerregistrierung, Registrierungsfehlerbildaufnahme, Bildaufnahme in voller Größe und vollständiger Waferinspektion geliefert. Zusätzlich bietet das System eine optionale AutoRX integrierte Kalibriereinheit, um genaue Messergebnisse zu gewährleisten. Um maximale Effizienz zu gewährleisten, verfügt die Maschine auch über eine Reihe von Datenverwaltungstools, wie eine zentrale Datenbank, ein Datenlogging-Tool und ein Reporting-Asset. Diese Funktionen ermöglichen es Benutzern, Testergebnisse einfach zu verfolgen, Berichte zu erstellen und ein organisiertes Waferdatenarchiv zu verwalten. Aleris Hx8500 Wafer Testing & Metrology Model ist eine fortschrittliche Wafer-Testlösung, die eine effektive und kosteneffiziente Möglichkeit bietet, Wafer auf Fehler zu untersuchen und zu bewerten. Die umfassenden Funktionen des Geräts bieten zuverlässige Tests, effiziente Workflow-Optimierung und Datenverwaltungsfunktionen und sind somit ein unschätzbares Werkzeug für Qualitätskontrolle und Fehleranalyse.