Gebraucht KLA / TENCOR Alpha Step 200 #293644262 zu verkaufen

ID: 293644262
Profilometer.
KLA/TENCOR Alpha Step 200 ist eine umfassende Wafer-Prüf- und Messtechnik, die Anwendern höchste Genauigkeit bei der Analyse, Charakterisierung und Optimierung der Waferqualität bietet. Das System ist das erste seiner Art, das die Möglichkeit bietet, gleichzeitig eine Reihe von Eigenschaften auf verschiedensten Substraten zu überwachen, abzubilden und zu messen. Es bietet mehrere Ansichtsmodi, mit denen Benutzer verschiedene Aspekte der Substrate mit einer einzigen bildgebenden Plattform überprüfen, messen und analysieren können. Das Gerät ist gut ausgestattet mit automatisierten High-End-Funktionen, die eine breite Palette von Wafer-Messtechnik-Operationen ermöglichen. Es verfügt über drei Abbildungsmodi - Laser Line Scanning (LLS) ermöglicht die Oberflächentopographie-Abbildung; Fourier Transform Infrarot-Spektroskopie (FTIR) ermöglicht eine sehr detaillierte Analyse der Wafer-Zusammensetzung; und Weißlicht-Interferometrie bietet 3D-Bildgebung, um Auflösung auf Nanometerebene Bildgebung und Messung zu ermöglichen. Erweiterte Messfunktionen wie Fokusvariation und Vor-Ort-Einstellfokus ermöglichen die Charakterisierung der Oberfläche des Wafers für die Messung der Spannung und der Schritthöhe. Darüber hinaus bietet die Maschine eine Reihe von Qualitätskontrollalgorithmen und Reporting-Funktionen, um Anwendern zu helfen, die Qualität ihrer Substrate zu überwachen und zu verbessern. Das Werkzeug ist sehr effizient und präzise in seinen Operationen, in der Lage, einen Pixelabstand von 5 nm und darunter mit hoher Präzision zu erreichen. Es bietet auch eine breite Palette von Dynamikbereichseinstellungen, die es Anwendern ermöglichen, ihre Ergebnisse zu maximieren und ihre Produktionserträge genau zu verfolgen. Das Asset verfügt über eine überlegene Messgenauigkeit und Präzision, die durch seine hybride Bildgebungstechnologie und seine leistungsstarke Hardwarearchitektur ermöglicht wird. High-End-Tools wie Contrast Enhanced Edge Analysis (CEEA) und Focus Metrology verbessern die messtechnischen Fähigkeiten des Modells und bieten gleichzeitig hervorragende Leistung. Darüber hinaus hilft ein fortschrittlicher, selbstkalibrierender Autofokus dabei, genaue Ergebnisse über verschiedene Wafer zu liefern. Das Gerät ist benutzerfreundlich und einfach zu bedienen, mit einer einfachen, intuitiven grafischen Benutzeroberfläche, die Benutzer durch jeden Schritt der Bedienung führt. Mehrere integrierte Funktionen wie automatische Inspektionseinrichtung und Scanmusterauswahl helfen Benutzern, Zeit und Aufwand zu sparen. Darüber hinaus bietet das System eine Reihe von Visualisierungswerkzeugen, einschließlich Konturplots und dreidimensionalen Konturplots des Wafers, um Anwendern zu helfen, die Leistung verschiedener Substrate zu vergleichen. Insgesamt ist die KLA ALPHASTEP 200 eine ideale Einheit für Anwender, die nach einer effizienten, präzisen und leistungsstarken Wafertest- und Messtechnik-Lösung suchen. Mit ihren robusten Merkmalen und Fähigkeiten ist die Maschine für eine breite Palette von Wafertest- und messtechnischen Anwendungen bestens geeignet.
Es liegen noch keine Bewertungen vor